Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта

Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта

Представлено узагальнення методів моментів та Холла—Вільямсона, що не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій та враховує характер функції розсіювання через наявність областей когерентного розсіювання. Розроблений підхід базується на формі відновленого із застосуванням м...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Доповіді НАН України
Date:2019
Main Authors: Роженко, Н.М., Григорьєв, О.М., Картузов, В.В.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2019
Subjects:
Матеріалознавство
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/150467
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта / Н.М. Роженко, О.М. Григорьєв, В.В. Картузов // Доповіді Національної академії наук України. — 2019. — № 1. — С. 47-54. — Бібліогр.: 15 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-150467
record_format dspace
spelling Роженко, Н.М.
Григорьєв, О.М.
Картузов, В.В.
2019-04-07T11:53:42Z
2019-04-07T11:53:42Z
2019
Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта / Н.М. Роженко, О.М. Григорьєв, В.В. Картузов // Доповіді Національної академії наук України. — 2019. — № 1. — С. 47-54. — Бібліогр.: 15 назв. — укр.
1025-6415
DOI: doi.org/10.15407/dopovidi2019.01.047
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/150467
519.642:539.261
Представлено узагальнення методів моментів та Холла—Вільямсона, що не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій та враховує характер функції розсіювання через наявність областей когерентного розсіювання. Розроблений підхід базується на формі відновленого із застосуванням методу регуляризації Тихонова повного фізичного профілю і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій.
Представлено обобщение методов моментов и Холла—Вильямсона, не нуждающееся в априорных предположениях относительно закона распределения микродеформаций и учитывающее характер функции рассеивания из-за наличия областей когерентного рассеивания. Разработанный подход базируется на анализе формы восстановленного с применением метода регуляризации Тихонова полного физического профиля и позволяет определять функцию плотности распределения микродеформаций.
Generalizations of the method of moments and the Hall—Williamson one are presented without apriori assumptions about the distribution law for microstrains with regard for the nature of a dispersion function due to the presence of coherent scattering. The developed approach is based on the analysis of the shape of the complete physical profile restored using the Tikhonov regularization method and allows one to determine the distribution function of microstrains.
uk
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
Доповіді НАН України
Матеріалознавство
Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта
Метод анализа формы дифракционных линий, не требующий перехода к пространству объекта
A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта
spellingShingle Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта
Роженко, Н.М.
Григорьєв, О.М.
Картузов, В.В.
Матеріалознавство
title_short Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта
title_full Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта
title_fullStr Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта
title_full_unstemmed Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта
title_sort метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта
author Роженко, Н.М.
Григорьєв, О.М.
Картузов, В.В.
author_facet Роженко, Н.М.
Григорьєв, О.М.
Картузов, В.В.
topic Матеріалознавство
topic_facet Матеріалознавство
publishDate 2019
language Ukrainian
container_title Доповіді НАН України
publisher Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
format Article
title_alt Метод анализа формы дифракционных линий, не требующий перехода к пространству объекта
A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
description Представлено узагальнення методів моментів та Холла—Вільямсона, що не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій та враховує характер функції розсіювання через наявність областей когерентного розсіювання. Розроблений підхід базується на формі відновленого із застосуванням методу регуляризації Тихонова повного фізичного профілю і дозволяє визначати функцію щільності розподілу мікродеформацій. Представлено обобщение методов моментов и Холла—Вильямсона, не нуждающееся в априорных предположениях относительно закона распределения микродеформаций и учитывающее характер функции рассеивания из-за наличия областей когерентного рассеивания. Разработанный подход базируется на анализе формы восстановленного с применением метода регуляризации Тихонова полного физического профиля и позволяет определять функцию плотности распределения микродеформаций. Generalizations of the method of moments and the Hall—Williamson one are presented without apriori assumptions about the distribution law for microstrains with regard for the nature of a dispersion function due to the presence of coherent scattering. The developed approach is based on the analysis of the shape of the complete physical profile restored using the Tikhonov regularization method and allows one to determine the distribution function of microstrains.
issn 1025-6415
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/150467
citation_txt Метод аналізу форми дифракційних ліній, що не потребує переходу до простору об'єкта / Н.М. Роженко, О.М. Григорьєв, В.В. Картузов // Доповіді Національної академії наук України. — 2019. — № 1. — С. 47-54. — Бібліогр.: 15 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT roženkonm metodanalízuformidifrakcíinihlíníiŝonepotrebuêperehodudoprostoruobêkta
AT grigorʹêvom metodanalízuformidifrakcíinihlíníiŝonepotrebuêperehodudoprostoruobêkta
AT kartuzovvv metodanalízuformidifrakcíinihlíníiŝonepotrebuêperehodudoprostoruobêkta
AT roženkonm metodanalizaformydifrakcionnyhliniinetrebuûŝiiperehodakprostranstvuobʺekta
AT grigorʹêvom metodanalizaformydifrakcionnyhliniinetrebuûŝiiperehodakprostranstvuobʺekta
AT kartuzovvv metodanalizaformydifrakcionnyhliniinetrebuûŝiiperehodakprostranstvuobʺekta
AT roženkonm amethodofanalysisoftheshapesofxraydiffractionlinesnotrequiringatransitiontothespaceofanobject
AT grigorʹêvom amethodofanalysisoftheshapesofxraydiffractionlinesnotrequiringatransitiontothespaceofanobject
AT kartuzovvv amethodofanalysisoftheshapesofxraydiffractionlinesnotrequiringatransitiontothespaceofanobject
first_indexed 2025-12-07T15:43:23Z
last_indexed 2025-12-07T15:43:23Z
_version_ 1850864779785142272

Similar Items