Зображення обкладинки

Эвристическая модель деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции для диагностики монокристаллов с дефектами нескольких типов

С целью разработки подхода для диагностики несовершенств монокристаллов методом деформационной зависимости (ДЗ) полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) предложена соответствующая эвристическая модель, справедливая в случаях, когда диффузная составляющая ПИИДД может быть соиз...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Металлофизика и новейшие технологии
Дата:	2018
Автори:	Молодкин, В.Б., Низкова, А.И., Лизунов, В.В., Молодкин, В.В., Дмитриев, С.В., Макаренко, Л.И., Кононенко, О.С., Демчик, И.И., Ирха, Н.П.
Формат:	Стаття
Мова:	Російська
Опубліковано:	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2018
Теми:	Физико-технические основы эксперимента и диагностики
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/151855
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Эвристическая модель деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции для диагностики монокристаллов с дефектами нескольких типов / В.Б. Молодкин, А.И. Низкова, В.В. Лизунов, В.В. Молодкин, С.В. Дмитриев, Л.И. Макаренко, О.С. Кононенко, И.И. Демчик, Н.П. Ирха // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 9. — С. 1133-1147. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах
за авторством: Молодкин, В.Б., та інші
Опубліковано: (2018)

Возможности диагностики нескольких типов дефектов кристалла на основе эффекта различного влияния дефектов разного типа на деформационную зависимость полной интегральной интенсивности динамической дифракции
за авторством: Лизунов, В.В., та інші
Опубліковано: (2014)

Физическая природа и новые возможности использования эффектов асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции для диагностики кристаллов с нарушенным поверхностным слоем и дефектами
за авторством: Молодкин, В.Б., та інші
Опубліковано: (2017)

Новые подходы в исследовании неоднородности гетерогенных структур
за авторством: Скобло, Т.С., та інші
Опубліковано: (2018)

Термічне розширення поверхні стопу FeNi51
за авторством: Васильєв, М.О., та інші
Опубліковано: (2018)

Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів
за авторством: Роженко, Н.М., та інші
Опубліковано: (2018)

Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)

Acoustical Investigation of Adhesion in Liquid Metal–Ceramic Interfaces
за авторством: Hadef, Zakaria, та інші
Опубліковано: (2018)

Regularization of One Conditionally Ill-Posed Problem of Extractive Metallurgy
за авторством: Bolshakov, V.I., та інші
Опубліковано: (2018)

Characterization of Single SAW Velocities of Ti–6Al–4V Alloy as a Function of Porosity by SAM Simulation for Applications
за авторством: Al-Sayad, Y., та інші
Опубліковано: (2018)

Діягностування прихоплень металевих бурильних труб за їхнім напружено-деформованим станом у похило-скерованій свердловині
за авторством: Левчук, К.Г.
Опубліковано: (2018)

Физическая природа и методические основы диагностики с использованием эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем
за авторством: Молодкин, В.Б., та інші
Опубліковано: (2017)

Создание основ интегральной динамической дифрактометрии микро- и нанонеоднородностей структуры кристаллов с дефектами и нарушенным поверхностным слоем
за авторством: Молодкин, В.Б., та інші
Опубліковано: (2017)

Физические основы многопараметрической кристаллографии: диагностика дефектов нескольких типов в монокристаллических материалах и изделиях нанотехнологий
за авторством: Молодкин, В.Б., та інші
Опубліковано: (2011)

Поляризованная дейтронная мишень
за авторством: Беляев, А.А., та інші
Опубліковано: (1999)

Источник гамма излучения для научных и технологических целей на основе обратного комптоновского рассеяния
за авторством: Буляк, Е.В., та інші
Опубліковано: (1999)

Меллеровский поляриметр электронов для TJNAF (зал А)
за авторством: Гламаздин, А.В., та інші
Опубліковано: (1999)

Определение числа фотоэлектронов
за авторством: Зацеркляный, А.Е., та інші
Опубліковано: (1999)

Влияние нарушенного поверхностного слоя на динамическое рассеяние в кристаллах с дефектами
за авторством: Шпак, А.П., та інші
Опубліковано: (2004)

Газовые мишени ГМ-1 и ГМ-2 для экспериментов по рассеянию электронов
за авторством: Буки, А.Ю.
Опубліковано: (1999)

Новые возможности интегральной динамической дифрактометрии несовершенств кристаллов
за авторством: Лизунов, В.В., та інші
Опубліковано: (2015)

Динамическая теория скользящего диффузного рассеяния рентгеновских лучей в кристалле с приповерхностными дефектами
за авторством: Гаевский, А.Ю., та інші
Опубліковано: (2014)

Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии
за авторством: Хвостов, С.С., та інші
Опубліковано: (2003)

Высокотемпературные ВЧ сквиды для pаботы в магнитных полях. Влияние тепловых флуктуаций
за авторством: Шнырков, В.И., та інші
Опубліковано: (1999)

Роль неоднородных деформаций и корреляции приповерхностных дефектов в скользящей дифракции рентгеновского излучения
за авторством: Гаевский, А.Ю., та інші
Опубліковано: (2014)

Комби-криостат для рентгеновского дифрактометра
за авторством: Бондарь, И.С., та інші
Опубліковано: (2017)

Новый метод получения точечных контактов
за авторством: Фисун, В.В., та інші
Опубліковано: (2008)

Особенности упрочнения при формировании деформационной наноструктуры
за авторством: Подрезов, Ю.Н., та інші
Опубліковано: (2015)

Измерение плотности газов и жидкостей под давлением с помощью магнитной левитации эталонного образца
за авторством: Панфилов, А.С., та інші
Опубліковано: (2002)

Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
за авторством: Ростами, Х.Р.
Опубліковано: (2001)

Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение
за авторством: Фодчук, И.М., та інші
Опубліковано: (2018)

Применение маятникового магнитометра для измерения магнитной восприимчивости твердых тел под давлением: соединение V₄S₉Br₄
за авторством: Пaнфилов, А.С.
Опубліковано: (2015)

Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
за авторством: Шпак, А.П., та інші
Опубліковано: (2004)

Оценка структурно-деформационной неоднородности тонкого поверхностного слоя материалов методом царапания
за авторством: Игнатович, С.Р., та інші
Опубліковано: (2008)

Спектральная теория ортогональных полиномов нескольких переменных
за авторством: Гехтман, М.И., та інші
Опубліковано: (1991)

Дисперсионные эффекты взаимосвязанности зависимостей от различных условий дифракции картины рассеяния и колоссального усиления этих зависимостей и их структурной чувствительности и информативности
за авторством: Скапа, Л.Н., та інші
Опубліковано: (2015)

Проверка нескольких гипотез с помощью оптимальных статистических критериев. II
за авторством: Кук, Ю.В., та інші
Опубліковано: (1994)

Оценка степени деформационной проработки колесных заготовок по изменению параметров дендритной структуры
за авторством: Бабаченко, А.И., та інші
Опубліковано: (2016)

Исследование структуры углей методом рентгеновской дифракции
за авторством: Алексеев, А.Д., та інші
Опубліковано: (2002)

О нескольких находках византийских печатей в Крыму
за авторством: Шандровская, В.С.
Опубліковано: (2000)