Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів
Представлено методику аналізи форми рентґенівських ліній із застосуванням методи реґуляризації за Тихоновим до відновлення фізичного профілю (радіяльного розподілу інтенсивности відбивання, розширення якого спричинено виключно дефектами кристалічної структури). Запропоновано процедуру відокремлення...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Металлофизика и новейшие технологии |
|---|---|
| Datum: | 2018 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2018
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/151856 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів / Н.М. Роженко, О.М. Григор’єв, В.В. Картузов // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 9. — С. 1149-1164. — Бібліогр.: 21 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-151856 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Роженко, Н.М. Григор’єв, О.М. Картузов, В.В. 2019-05-24T15:22:15Z 2019-05-24T15:22:15Z 2018 Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів / Н.М. Роженко, О.М. Григор’єв, В.В. Картузов // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 9. — С. 1149-1164. — Бібліогр.: 21 назв. — укр. 1024-1809 PACS: 07.85.-m, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.72.Dd, 81.07.-b, 81.70.-q DOI: 10.15407/mfint.40.09.1149 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/151856 Представлено методику аналізи форми рентґенівських ліній із застосуванням методи реґуляризації за Тихоновим до відновлення фізичного профілю (радіяльного розподілу інтенсивности відбивання, розширення якого спричинено виключно дефектами кристалічної структури). Запропоновано процедуру відокремлення ефектів дифракції Рентґенових променів на кристалічній ґратниці з мікродеформаціями та на областях когерентного розсіяння, яка ґрунтується на відновленні форми повного фізичного профілю, не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій і враховує тип функції розширення на областях когерентного розсіяння. Представлена методика анализа формы рентгеновских линий с применением метода регуляризации Тихонова к восстановлению физического профиля (радиального распределения интенсивности отражения, уширение которого вызвано исключительно дефектами кристаллической структуры). Предложена процедура разделения эффектов дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решётке с микродеформациями и на областях когерентного рассеяния, которая основана на восстановлении формы полного физического профиля, не нуждается в априорных предположениях относительно закона распределения микродеформаций и учитывает тип функции уширения на областях когерентного рассеяния. The technique of analysis of the x-ray patterns’ shape using Tikhonov’s regularization method to reconstruct a physical profile (i.e., radial distribution of reflection intensity, the broadening of which is caused by crystal defects only) is described. A procedure for the separation of x-ray diffraction effects on the crystal lattice with microstrains and on coherent scattering regions is proposed. It is based on the recovery of total physical profile shape, does not require a priori assumptions about a law of microstrain distribution, and allows taking into account for a broadening-function type within the areas of coherent scattering. uk Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Металлофизика и новейшие технологии Физико-технические основы эксперимента и диагностики Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів Применение цифрового аналога повышения разрешающей способности рентгенодифракционного оборудования для исследования дефектного состояния кристаллических материалов Application of Digital Analog of Increase of Resolving Power of the X-Ray Diffraction Equipment for Characterization of an Imperfect State of Crystalline Materials Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів |
| spellingShingle |
Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів Роженко, Н.М. Григор’єв, О.М. Картузов, В.В. Физико-технические основы эксперимента и диагностики |
| title_short |
Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів |
| title_full |
Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів |
| title_fullStr |
Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів |
| title_full_unstemmed |
Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів |
| title_sort |
застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів |
| author |
Роженко, Н.М. Григор’єв, О.М. Картузов, В.В. |
| author_facet |
Роженко, Н.М. Григор’єв, О.М. Картузов, В.В. |
| topic |
Физико-технические основы эксперимента и диагностики |
| topic_facet |
Физико-технические основы эксперимента и диагностики |
| publishDate |
2018 |
| language |
Ukrainian |
| container_title |
Металлофизика и новейшие технологии |
| publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Применение цифрового аналога повышения разрешающей способности рентгенодифракционного оборудования для исследования дефектного состояния кристаллических материалов Application of Digital Analog of Increase of Resolving Power of the X-Ray Diffraction Equipment for Characterization of an Imperfect State of Crystalline Materials |
| description |
Представлено методику аналізи форми рентґенівських ліній із застосуванням методи реґуляризації за Тихоновим до відновлення фізичного профілю (радіяльного розподілу інтенсивности відбивання, розширення якого спричинено виключно дефектами кристалічної структури). Запропоновано процедуру відокремлення ефектів дифракції Рентґенових променів на кристалічній ґратниці з мікродеформаціями та на областях когерентного розсіяння, яка ґрунтується на відновленні форми повного фізичного профілю, не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій і враховує тип функції розширення на областях когерентного розсіяння.
Представлена методика анализа формы рентгеновских линий с применением метода регуляризации Тихонова к восстановлению физического профиля (радиального распределения интенсивности отражения, уширение которого вызвано исключительно дефектами кристаллической структуры). Предложена процедура разделения эффектов дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решётке с микродеформациями и на областях когерентного рассеяния, которая основана на восстановлении формы полного физического профиля, не нуждается в априорных предположениях относительно закона распределения микродеформаций и учитывает тип функции уширения на областях когерентного рассеяния.
The technique of analysis of the x-ray patterns’ shape using Tikhonov’s regularization method to reconstruct a physical profile (i.e., radial distribution of reflection intensity, the broadening of which is caused by crystal defects only) is described. A procedure for the separation of x-ray diffraction effects on the crystal lattice with microstrains and on coherent scattering regions is proposed. It is based on the recovery of total physical profile shape, does not require a priori assumptions about a law of microstrain distribution, and allows taking into account for a broadening-function type within the areas of coherent scattering.
|
| issn |
1024-1809 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/151856 |
| citation_txt |
Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів / Н.М. Роженко, О.М. Григор’єв, В.В. Картузов // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 9. — С. 1149-1164. — Бібліогр.: 21 назв. — укр. |
| work_keys_str_mv |
AT roženkonm zastosuvannâcifrovogoanalogupídviŝennârozdílʹčoízdatnostirentgenodifrakcíinogoobladnannâdlâdoslídžennâdefektnogostanukristalíčnihmateríâlív AT grigorêvom zastosuvannâcifrovogoanalogupídviŝennârozdílʹčoízdatnostirentgenodifrakcíinogoobladnannâdlâdoslídžennâdefektnogostanukristalíčnihmateríâlív AT kartuzovvv zastosuvannâcifrovogoanalogupídviŝennârozdílʹčoízdatnostirentgenodifrakcíinogoobladnannâdlâdoslídžennâdefektnogostanukristalíčnihmateríâlív AT roženkonm primeneniecifrovogoanalogapovyšeniârazrešaûŝeisposobnostirentgenodifrakcionnogooborudovaniâdlâissledovaniâdefektnogosostoâniâkristalličeskihmaterialov AT grigorêvom primeneniecifrovogoanalogapovyšeniârazrešaûŝeisposobnostirentgenodifrakcionnogooborudovaniâdlâissledovaniâdefektnogosostoâniâkristalličeskihmaterialov AT kartuzovvv primeneniecifrovogoanalogapovyšeniârazrešaûŝeisposobnostirentgenodifrakcionnogooborudovaniâdlâissledovaniâdefektnogosostoâniâkristalličeskihmaterialov AT roženkonm applicationofdigitalanalogofincreaseofresolvingpowerofthexraydiffractionequipmentforcharacterizationofanimperfectstateofcrystallinematerials AT grigorêvom applicationofdigitalanalogofincreaseofresolvingpowerofthexraydiffractionequipmentforcharacterizationofanimperfectstateofcrystallinematerials AT kartuzovvv applicationofdigitalanalogofincreaseofresolvingpowerofthexraydiffractionequipmentforcharacterizationofanimperfectstateofcrystallinematerials |
| first_indexed |
2025-12-07T16:48:23Z |
| last_indexed |
2025-12-07T16:48:23Z |
| _version_ |
1850868869319622656 |