Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора
Вивчались пробійні процеси у фосфідо-галієвих світлодіодах. Проведені оцінки величини коефіцієнта ударної іонізації у вихідних зразках. Показано, що опромінення нейтронами спричиняє збільшення зворотнього струму, обумовленого існуванням потенціального бар’єра. Значна кількість мікроплазм свідчить пр...
Gespeichert in:
| Datum: | 2010 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2010
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/15664 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора / Н.В. Друзенко, В.І. Куц, О.В. Мосолаб, Л.В. Ушата, Ю.Г. Гришин, В.П. Тартачник, Л.І. Чирко, В.Я. Опилат, С.Б. Смирнов, В.Ф. Ластовецький, П.Г. Литовченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 1. — С. 112-116. — Бібліогр.: 8 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-15664 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Друзенко, Н.В. Куц, В.І. Мосолаб, О.В. Ушата, Л.В. Гришин, Ю.Г. Тартачник, В.П. Чирко, Л.І. Опилат, В.Я. Смирнов, С.Б. Ластовецький, В.Ф. Литовченко, П.Г. 2011-01-31T10:01:17Z 2011-01-31T10:01:17Z 2010 Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора / Н.В. Друзенко, В.І. Куц, О.В. Мосолаб, Л.В. Ушата, Ю.Г. Гришин, В.П. Тартачник, Л.І. Чирко, В.Я. Опилат, С.Б. Смирнов, В.Ф. Ластовецький, П.Г. Литовченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 1. — С. 112-116. — Бібліогр.: 8 назв. — укр. 1562-6016 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/15664 621.315.592 Вивчались пробійні процеси у фосфідо-галієвих світлодіодах. Проведені оцінки величини коефіцієнта ударної іонізації у вихідних зразках. Показано, що опромінення нейтронами спричиняє збільшення зворотнього струму, обумовленого існуванням потенціального бар’єра. Значна кількість мікроплазм свідчить про суттєву неоднорідність досліджуваних p-n-переходів. Изучены пробойные процессы в фосфидо-галлиевых светодиодах. Проведены оценки величины коэффициента ударной ионизации в исходных образцах. Показано, что облучение нейтронами влечет за собой увеличение обратного тока, обусловленного существованием потенциального барьера. Значительное количество микроплазм свидетельствует о существенной неоднородности исследуемых p-n-переходов. Breakdown processes in phosphide-gallium light-emitting have been studied were studied. The coefficient of collision ionization in initial samples has been estimated. It was shown that neutron irradiation results in increase of the reverse current caused by existence of potential barrier. The significant amount of microplasmas is the manifestation of essential inhomogeneity of p-n junctions studied. uk Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Физика радиационных и ионно-плазменных технологий Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора Деградационные и восстановительные процессы в обратносмещенных фосфидо-галлиевых диодах, вызванные быстрыми нейтронами реактора Degradation and recovery processes in reverse-biased phosphidegallium diodes induced by reactor fast neutrons Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора |
| spellingShingle |
Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора Друзенко, Н.В. Куц, В.І. Мосолаб, О.В. Ушата, Л.В. Гришин, Ю.Г. Тартачник, В.П. Чирко, Л.І. Опилат, В.Я. Смирнов, С.Б. Ластовецький, В.Ф. Литовченко, П.Г. Физика радиационных и ионно-плазменных технологий |
| title_short |
Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора |
| title_full |
Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора |
| title_fullStr |
Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора |
| title_full_unstemmed |
Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора |
| title_sort |
деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора |
| author |
Друзенко, Н.В. Куц, В.І. Мосолаб, О.В. Ушата, Л.В. Гришин, Ю.Г. Тартачник, В.П. Чирко, Л.І. Опилат, В.Я. Смирнов, С.Б. Ластовецький, В.Ф. Литовченко, П.Г. |
| author_facet |
Друзенко, Н.В. Куц, В.І. Мосолаб, О.В. Ушата, Л.В. Гришин, Ю.Г. Тартачник, В.П. Чирко, Л.І. Опилат, В.Я. Смирнов, С.Б. Ластовецький, В.Ф. Литовченко, П.Г. |
| topic |
Физика радиационных и ионно-плазменных технологий |
| topic_facet |
Физика радиационных и ионно-плазменных технологий |
| publishDate |
2010 |
| language |
Ukrainian |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Деградационные и восстановительные процессы в обратносмещенных фосфидо-галлиевых диодах, вызванные быстрыми нейтронами реактора Degradation and recovery processes in reverse-biased phosphidegallium diodes induced by reactor fast neutrons |
| description |
Вивчались пробійні процеси у фосфідо-галієвих світлодіодах. Проведені оцінки величини коефіцієнта ударної іонізації у вихідних зразках. Показано, що опромінення нейтронами спричиняє збільшення зворотнього струму, обумовленого існуванням потенціального бар’єра. Значна кількість мікроплазм свідчить про суттєву неоднорідність досліджуваних p-n-переходів.
Изучены пробойные процессы в фосфидо-галлиевых светодиодах. Проведены оценки величины коэффициента ударной ионизации в исходных образцах. Показано, что облучение нейтронами влечет за собой увеличение обратного тока, обусловленного существованием потенциального барьера. Значительное количество микроплазм свидетельствует о существенной неоднородности исследуемых p-n-переходов.
Breakdown processes in phosphide-gallium light-emitting have been studied were studied. The coefficient of collision ionization in initial samples has been estimated. It was shown that neutron irradiation results in increase of the reverse current caused by existence of potential barrier. The significant amount of microplasmas is the manifestation of essential inhomogeneity of p-n junctions studied.
|
| issn |
1562-6016 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/15664 |
| fulltext |
|
| citation_txt |
Деградаційні та відновні процеси у зворотньозміщених фосфідо-галієвих діодах, спричинені швидкими нейтронами реактора / Н.В. Друзенко, В.І. Куц, О.В. Мосолаб, Л.В. Ушата, Ю.Г. Гришин, В.П. Тартачник, Л.І. Чирко, В.Я. Опилат, С.Б. Смирнов, В.Ф. Ластовецький, П.Г. Литовченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 1. — С. 112-116. — Бібліогр.: 8 назв. — укр. |
| work_keys_str_mv |
AT druzenkonv degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT kucví degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT mosolabov degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT ušatalv degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT grišinûg degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT tartačnikvp degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT čirkolí degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT opilatvâ degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT smirnovsb degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT lastovecʹkiivf degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT litovčenkopg degradacíinítavídnovníprocesiuzvorotnʹozmíŝenihfosfídogalíêvihdíodahspričineníšvidkimineitronamireaktora AT druzenkonv degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT kucví degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT mosolabov degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT ušatalv degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT grišinûg degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT tartačnikvp degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT čirkolí degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT opilatvâ degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT smirnovsb degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT lastovecʹkiivf degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT litovčenkopg degradacionnyeivosstanovitelʹnyeprocessyvobratnosmeŝennyhfosfidogallievyhdiodahvyzvannyebystrymineitronamireaktora AT druzenkonv degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT kucví degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT mosolabov degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT ušatalv degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT grišinûg degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT tartačnikvp degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT čirkolí degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT opilatvâ degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT smirnovsb degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT lastovecʹkiivf degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons AT litovčenkopg degradationandrecoveryprocessesinreversebiasedphosphidegalliumdiodesinducedbyreactorfastneutrons |
| first_indexed |
2025-11-24T15:05:03Z |
| last_indexed |
2025-11-24T15:05:03Z |
| _version_ |
1850847381350776832 |