Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения
Рассматриваются естественная ширина спектрального пика параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) из тонкого кристалла и ширина спектрального пика, обусловленная угловым разрешением эксперимента. Найдены условия, при которых естественная ширина превышает ширину, обусловленную угловым разрешение...
Gespeichert in:
| Datum: | 2010 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2010
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/15720 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения / А.В. Щагин // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 2. — С. 197-199. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862541755240415232 |
|---|---|
| author | Щагин, А.В. |
| author_facet | Щагин, А.В. |
| citation_txt | Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения / А.В. Щагин // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 2. — С. 197-199. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| description | Рассматриваются естественная ширина спектрального пика параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) из тонкого кристалла и ширина спектрального пика, обусловленная угловым разрешением эксперимента. Найдены условия, при которых естественная ширина превышает ширину, обусловленную угловым разрешением эксперимента. Показана возможность применения ПРИ для измерения толщины кристаллического слоя в нанометровом диапазоне и обсуждается постановка эксперимента на ускорителе электронов.
Розглядається природна ширина спектрального пика параметричного рентгенівського випромінювання (ПРВ) з тонкого кристала та ширина спектрального пику, зумовлена кутовим дозволом експерименту. Знайдені умови, при яких природна ширина перевищує ширину, зумовлену кутовим дозволом експерименту. Показана можливість застосування ПРВ для виміру товщини кристалічного шару в нанометровому діапазоні та обговорюється постановка експерименту на прискорювачі електронів.
The natural spectral peak width of the parametric X-ray radiation (PXR) from a thin crystal and the spectral peak width due to experimental angular resolution are considered. The conditions when the natural spectral peak width exceeds the width due to experimental angular resolution are found. A possibility for application of the PXR for measurements of the thickness of a thin crystalline layer in nanometer range is shown and experimental layout at electron accelerator is discussed.
|
| first_indexed | 2025-11-24T16:49:08Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-15720 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1562-6016 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-24T16:49:08Z |
| publishDate | 2010 |
| publisher | Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Щагин, А.В. 2011-01-31T16:59:08Z 2011-01-31T16:59:08Z 2010 Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения / А.В. Щагин // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 2. — С. 197-199. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. 1562-6016 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/15720 539.12.04 Рассматриваются естественная ширина спектрального пика параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) из тонкого кристалла и ширина спектрального пика, обусловленная угловым разрешением эксперимента. Найдены условия, при которых естественная ширина превышает ширину, обусловленную угловым разрешением эксперимента. Показана возможность применения ПРИ для измерения толщины кристаллического слоя в нанометровом диапазоне и обсуждается постановка эксперимента на ускорителе электронов. Розглядається природна ширина спектрального пика параметричного рентгенівського випромінювання (ПРВ) з тонкого кристала та ширина спектрального пику, зумовлена кутовим дозволом експерименту. Знайдені умови, при яких природна ширина перевищує ширину, зумовлену кутовим дозволом експерименту. Показана можливість застосування ПРВ для виміру товщини кристалічного шару в нанометровому діапазоні та обговорюється постановка експерименту на прискорювачі електронів. The natural spectral peak width of the parametric X-ray radiation (PXR) from a thin crystal and the spectral peak width due to experimental angular resolution are considered. The conditions when the natural spectral peak width exceeds the width due to experimental angular resolution are found. A possibility for application of the PXR for measurements of the thickness of a thin crystalline layer in nanometer range is shown and experimental layout at electron accelerator is discussed. ru Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Применение ускорителей Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения Можливість виміру розмірів нанокристалів за допомогою параметричного рентгенівського випромінювання Possibility for measurement of nanocrystal size with use of parametric X-ray radiation Article published earlier |
| spellingShingle | Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения Щагин, А.В. Применение ускорителей |
| title | Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения |
| title_alt | Можливість виміру розмірів нанокристалів за допомогою параметричного рентгенівського випромінювання Possibility for measurement of nanocrystal size with use of parametric X-ray radiation |
| title_full | Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения |
| title_fullStr | Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения |
| title_full_unstemmed | Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения |
| title_short | Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения |
| title_sort | возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения |
| topic | Применение ускорителей |
| topic_facet | Применение ускорителей |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/15720 |
| work_keys_str_mv | AT ŝaginav vozmožnostʹizmereniârazmerovnanokristallovspomoŝʹûparametričeskogorentgenovskogoizlučeniâ AT ŝaginav možlivístʹvimírurozmírívnanokristalívzadopomogoûparametričnogorentgenívsʹkogovipromínûvannâ AT ŝaginav possibilityformeasurementofnanocrystalsizewithuseofparametricxrayradiation |