Застосування частотно-фазового методу для контролю геометричних параметрів обїєктів

• Published in: Технічна електродинаміка
• Date: 2017
• Main Authors: Брагинець, І.О., Кононенко, О.Г., Масюренко, Ю.О.
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Інститут електродинаміки НАН України 2017
• Subjects: Інформаційно-вимірювальні системи в електроенергетиці
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/158981
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Застосування частотно-фазового методу для контролю геометричних параметрів обїєктів / І.О. Брагинець, О.Г. Кононенко, Ю.О. Масюренко // Технічна електродинаміка. — 2017. — № 6. — С. 88–93. — Бібліогр.: 10 назв. — укр.

Розглянуто можливість використання лазерних частотно-фазових далекомірних систем у радарному режимі для оцінки якості та форми контрольованих дифузно-відбиваючих поверхонь. Проведено аналітичні дослідження вихідної величини частотно-фазових систем при нерівномірності контрольованих поверхонь. Оцінено спектр вихідного сигналу системи у даному випадку та визначено амплітуди окремих складових спектру, значення яких характеризують стан поверхні або її профіль. Рассмотрена возможность использования лазерных частотно-фазовых дальномерных систем в радарном режиме для оценки качества и формы контролируемых диффузно-отражающих поверхностей. Проведены аналитические исследования выходной величины частотно-фазовых систем при неравномерности контролируемых поверхностей. Оценен спектр выходного сигнала системы в этом случае и определены амплитуды отдельных составляющих спектра, значения которых характеризуют состояние поверхности или ее профиль. Authors considered the possibility of using laser frequency-phase ranging systems in the radar mode for evaluating the quality and shape of the controlled diffuse-reflecting surfaces. We carried out analytical studies of the output value of frequency-phase systems for non-uniformity of controlled surfaces. The spectrum of the system output signal is estimated in this case and the amplitudes of the individual components of the spectrum are determined, the values of which characterize surface state or its profile.