Исследование процессов структурной релаксации поверхности аморфного сплава Fe₇₇Si₈B₁₅ методом сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии

Методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии изучены процессы релаксации, происходящие на поверхности аморфной ленты состава Fe₇₇Si₈B₁₅ в зависимости от температуры отжига и охлаждения. Показано влияние температуры и скорости прогрева на морфологию поверхности и размер нанокристаллов...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Металлофизика и новейшие технологии
Дата:2012
Автори: Карбовский, В.Л., Ильинский, А.Г., Лепеева, Ю.В., Загородний, Ю.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2012
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167707
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Исследование процессов структурной релаксации поверхности аморфного сплава Fe₇₇Si₈B₁₅ методом сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии / В.Л. Карбовский, А.Г. Ильинский, Ю.В. Лепеева, Ю.А. Загородний // Металлофизика и новейшие технологии. — 2012. — Т. 34, № 1. — С. 99-110. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии изучены процессы релаксации, происходящие на поверхности аморфной ленты состава Fe₇₇Si₈B₁₅ в зависимости от температуры отжига и охлаждения. Показано влияние температуры и скорости прогрева на морфологию поверхности и размер нанокристаллов. Описаны процессы структурной релаксации, наблюдаемые методом туннельной микроскопии на поверхности исследуемого сплава. Установлено, что при умеренных температурах отжига наблюдаются нанокристаллы с характерным размером ≈ 15 нм, что сопоставимо с длиной магнитной обменной корреляции. Методами сканівної тунельної мікроскопії та спектроскопії вивчено процеси релаксації, що відбуваються на поверхні аморфної стрічки складу Fe₇₇Si₈B₁₅ залежно від температури відпалу та охолодження. Показано вплив температури і швидкости прогрівання на морфологію поверхні та розмір нанокристалів. Описано процеси структурної релаксації, спостережувані методою тунельної мікроскопії на поверхні досліджуваного стопу. Встановлено, що за помірних температур відпалу спостерігаються нанокристали з характерним розміром у ≈ 15 нм, що є порівнянним з довжиною магнетної обмінної кореляції. Methods of scanning tunnelling microscopy and spectroscopy are used to study relaxation processes occurring on a surface of the amorphous Fe₇₇Si₈B₁₅ ribbon depending on the annealing and cooling temperatures. Influence of both temperature and heating rate on the morphology of a surface and the nanocrystals size is shown. The processes of structural relaxation observed by the method of tunnelling microscopy on a surface of the investigated alloy are described. As revealed, at moderate temperatures of annealing, nanocrystals with the characteristic size of ≈ 15 nm are observed. This size is comparable to a length of magnetic exchange correlation.
ISSN:1024-1809