Thermal Smearing of Infrared Pattern on the Surface of a Thin Film HTSC Bolometer

• Veröffentlicht in: Радіофізика і радіоастрономія
• Datum: 2019
• Hauptverfasser: Gordiyenko, E.Yu, Glushchuk, N.I., Turutanov, O.G., Fomenko, Yu.V., Shustakova, G.V.
• Format: Artikel
• Sprache: Englisch
• Veröffentlicht: Радіоастрономічний інститут НАН України 2019
• Schlagworte: Фізичні основи електронних приладів
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167754
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Thermal Smearing of Infrared Pattern on the Surface of a Thin Film HTSC Bolometer / E.Yu. Gordiyenko, N.I. Glushchuk, O.G. Turutanov, Yu.V. Fomenko, G.V. Shustakova // Радіофізика і радіоастрономія. — 2019. — Т. 24, № 2. — С. 136-143. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.

Purpose: The smearing of the temperature pattern formed on the surface of an HTSC thin film/substrate structure by incident IR radiation is studied. The purpose of the work is to measure the spatial and temporal parameters of thermal smearing of an IR image on the film surface. Предмет и цель работы: В работе исследуется размытие температурного рельефа, образованного на поверхности пленочной высокотемпературной сверхпроводниковой структуры падающим ИК излучением. Цель работы – измерение пространственных и временных параметров теплового размытия ИК изображения на поверхности пленки. Предмет і мета роботи: У роботі досліджується розмиття температурного рельєфу, утвореного на поверхні тонкоплівкової високотемпературної надпроводникової структури падаючим ІЧ випромінюванням. Мета роботи – вимірювання просторових і часових параметрів теплового розмиття ІЧ зображення на поверхні плівки.