Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications

The authors investigate deformation-induced changes in the electrophysical parameters of the indium antimonide microcrystals at cryogenic temperatures in strong magnetic fields up to 10 T. Исследованы деформационно-стимулированные изменения электрофизических параметров микрокристаллов антимонида инд...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:2019
Main Authors: Druzhinin, A.O., Khoverko, Yu.M., Ostrovskii, I.P., Liakh-Kaguy, N.S., Pasynkova, O.A.
Format: Article
Language:English
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2019
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167872
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications / A.O. Druzhinin, Yu.M. Khoverko, I.P. Ostrovskii, N.S. Liakh-Kaguy, O.A. Pasynkova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 3-4. — С. 3-9. — Бібліогр.: 31 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862547102138105856
author Druzhinin, A.O.
Khoverko, Yu.M.
Ostrovskii, I.P.
Liakh-Kaguy, N.S.
Pasynkova, O.A.
author_facet Druzhinin, A.O.
Khoverko, Yu.M.
Ostrovskii, I.P.
Liakh-Kaguy, N.S.
Pasynkova, O.A.
citation_txt Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications / A.O. Druzhinin, Yu.M. Khoverko, I.P. Ostrovskii, N.S. Liakh-Kaguy, O.A. Pasynkova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 3-4. — С. 3-9. — Бібліогр.: 31 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description The authors investigate deformation-induced changes in the electrophysical parameters of the indium antimonide microcrystals at cryogenic temperatures in strong magnetic fields up to 10 T. Исследованы деформационно-стимулированные изменения электрофизических параметров микрокристаллов антимонида индия при криогенных температурах в сильных магнитных полях (до 10 Тл). У роботі досліджено деформаційно-стимульоване змінення електрофізичних параметрів ниткоподібних кристалів антимоніду індію за кріогенних температур у сильних магнітних полях (до 10 Тл).
first_indexed 2025-11-25T14:43:14Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-167872
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language English
last_indexed 2025-11-25T14:43:14Z
publishDate 2019
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Druzhinin, A.O.
Khoverko, Yu.M.
Ostrovskii, I.P.
Liakh-Kaguy, N.S.
Pasynkova, O.A.
2020-04-12T15:42:02Z
2020-04-12T15:42:02Z
2019
Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications / A.O. Druzhinin, Yu.M. Khoverko, I.P. Ostrovskii, N.S. Liakh-Kaguy, O.A. Pasynkova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 3-4. — С. 3-9. — Бібліогр.: 31 назв. — англ.
2225-5818
DOI: 10.15222/TKEA2019.3-4.03
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167872
625.315.592
The authors investigate deformation-induced changes in the electrophysical parameters of the indium antimonide microcrystals at cryogenic temperatures in strong magnetic fields up to 10 T.
Исследованы деформационно-стимулированные изменения электрофизических параметров микрокристаллов антимонида индия при криогенных температурах в сильных магнитных полях (до 10 Тл).
У роботі досліджено деформаційно-стимульоване змінення електрофізичних параметрів ниткоподібних кристалів антимоніду індію за кріогенних температур у сильних магнітних полях (до 10 Тл).
en
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Новые компоненты для электронной аппаратуры
Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
Деформационно-стимулированые эффекты в микроструктурах антимонида индия при криогенных температурах для сенсорных применений
Деформаційно-стимульовані ефекти в мікроструктурах антимоніду індію за кріогених температур для сенсорних застосувань
Article
published earlier
spellingShingle Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
Druzhinin, A.O.
Khoverko, Yu.M.
Ostrovskii, I.P.
Liakh-Kaguy, N.S.
Pasynkova, O.A.
Новые компоненты для электронной аппаратуры
title Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
title_alt Деформационно-стимулированые эффекты в микроструктурах антимонида индия при криогенных температурах для сенсорных применений
Деформаційно-стимульовані ефекти в мікроструктурах антимоніду індію за кріогених температур для сенсорних застосувань
title_full Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
title_fullStr Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
title_full_unstemmed Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
title_short Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
title_sort deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
topic Новые компоненты для электронной аппаратуры
topic_facet Новые компоненты для электронной аппаратуры
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167872
work_keys_str_mv AT druzhininao deformationinducedeffectsinindiumantimonidemicrostructuresatcryogenictemperaturesforsensorapplications
AT khoverkoyum deformationinducedeffectsinindiumantimonidemicrostructuresatcryogenictemperaturesforsensorapplications
AT ostrovskiiip deformationinducedeffectsinindiumantimonidemicrostructuresatcryogenictemperaturesforsensorapplications
AT liakhkaguyns deformationinducedeffectsinindiumantimonidemicrostructuresatcryogenictemperaturesforsensorapplications
AT pasynkovaoa deformationinducedeffectsinindiumantimonidemicrostructuresatcryogenictemperaturesforsensorapplications
AT druzhininao deformacionnostimulirovanyeéffektyvmikrostrukturahantimonidaindiâprikriogennyhtemperaturahdlâsensornyhprimenenii
AT khoverkoyum deformacionnostimulirovanyeéffektyvmikrostrukturahantimonidaindiâprikriogennyhtemperaturahdlâsensornyhprimenenii
AT ostrovskiiip deformacionnostimulirovanyeéffektyvmikrostrukturahantimonidaindiâprikriogennyhtemperaturahdlâsensornyhprimenenii
AT liakhkaguyns deformacionnostimulirovanyeéffektyvmikrostrukturahantimonidaindiâprikriogennyhtemperaturahdlâsensornyhprimenenii
AT pasynkovaoa deformacionnostimulirovanyeéffektyvmikrostrukturahantimonidaindiâprikriogennyhtemperaturahdlâsensornyhprimenenii
AT druzhininao deformacíinostimulʹovaníefektivmíkrostrukturahantimoníduíndíûzakríogenihtemperaturdlâsensornihzastosuvanʹ
AT khoverkoyum deformacíinostimulʹovaníefektivmíkrostrukturahantimoníduíndíûzakríogenihtemperaturdlâsensornihzastosuvanʹ
AT ostrovskiiip deformacíinostimulʹovaníefektivmíkrostrukturahantimoníduíndíûzakríogenihtemperaturdlâsensornihzastosuvanʹ
AT liakhkaguyns deformacíinostimulʹovaníefektivmíkrostrukturahantimoníduíndíûzakríogenihtemperaturdlâsensornihzastosuvanʹ
AT pasynkovaoa deformacíinostimulʹovaníefektivmíkrostrukturahantimoníduíndíûzakríogenihtemperaturdlâsensornihzastosuvanʹ