Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications

• Datum: 2019
• Hauptverfasser: Druzhinin, A.O., Khoverko, Yu.M., Ostrovskii, I.P., Liakh-Kaguy, N.S., Pasynkova, O.A.
• Format: Artikel
• Sprache: English
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2019
• Schriftenreihe: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Schlagworte: Новые компоненты для электронной аппаратуры
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167872
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications / A.O. Druzhinin, Yu.M. Khoverko, I.P. Ostrovskii, N.S. Liakh-Kaguy, O.A. Pasynkova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 3-4. — С. 3-9. — Бібліогр.: 31 назв. — англ.

The authors investigate deformation-induced changes in the electrophysical parameters of the indium antimonide microcrystals at cryogenic temperatures in strong magnetic fields up to 10 T.