Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats

Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats

This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:2019
Hauptverfasser: Zabudsky, V., Golenkov, O., Rikhalsky, O., Reva, V., Korinets, S., Dukhnin, S., Mytiai, R.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2019
Schlagworte:
Электронные средства: исследования, разработки
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167881
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats / V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 5-6. — С. 3-7. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-167881
record_format dspace
spelling Zabudsky, V.
Golenkov, O.
Rikhalsky, O.
Reva, V.
Korinets, S.
Dukhnin, S.
Mytiai, R.
2020-04-12T18:55:50Z
2020-04-12T18:55:50Z
2019
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats / V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 5-6. — С. 3-7. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.
2225-5818
DOI: 10.15222/TKEA2019.5-6.03
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167881
621.317.318
This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents, output amplifier sensitivity, charge transfer efficiency, charge capacity and other parameters. The studies were conducted, both on the wafer and in the body, on samples of the following formats: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, and 1280×1024.
В данной статье описывается разработанное оборудование, позволяющее измерять фотоэлектрические параметры многоэлементных фотоприемников, в частности, различных форматов микросхем ПЗСЭУ (приборы с зарядовой связью и электронным умножением). Представляны методы измерения и результаты испытаний на темновые токи, чувствительность выходного усилителя, эффективность переноса заряда, зарядную емкость и другие параметры. Исследования проводились на образцах следующих форматов: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024 и 1280×1024, как на пластине, так и в корпусе.
В даній статті описано розроблену вимірювальну систему, що дозволяє досліджувати фотоелектричні параметри багатоелементних фотоприймачів, зокрема ПЗЗЕМ різних форматів. Представлено методики та результати вимірювань темнових струмів, чутливості вихідного підсилювача, ефективності передачі заряду, зарядової ємності та інших параметрів. Дослідження проводилися на зразках формату 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, 1280×1024 як на пластинах, так і в корпусах.
en
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Электронные средства: исследования, разработки
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats
Измерительная система для тестирования электрических параметров ПЗCЭУ разного формата
Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats
spellingShingle Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats
Zabudsky, V.
Golenkov, O.
Rikhalsky, O.
Reva, V.
Korinets, S.
Dukhnin, S.
Mytiai, R.
Электронные средства: исследования, разработки
title_short Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats
title_full Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats
title_fullStr Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats
title_full_unstemmed Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats
title_sort measuring system for testing electrical parameters of emccds of various formats
author Zabudsky, V.
Golenkov, O.
Rikhalsky, O.
Reva, V.
Korinets, S.
Dukhnin, S.
Mytiai, R.
author_facet Zabudsky, V.
Golenkov, O.
Rikhalsky, O.
Reva, V.
Korinets, S.
Dukhnin, S.
Mytiai, R.
topic Электронные средства: исследования, разработки
topic_facet Электронные средства: исследования, разработки
publishDate 2019
language English
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt Измерительная система для тестирования электрических параметров ПЗCЭУ разного формата
Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату
description This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents, output amplifier sensitivity, charge transfer efficiency, charge capacity and other parameters. The studies were conducted, both on the wafer and in the body, on samples of the following formats: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, and 1280×1024. В данной статье описывается разработанное оборудование, позволяющее измерять фотоэлектрические параметры многоэлементных фотоприемников, в частности, различных форматов микросхем ПЗСЭУ (приборы с зарядовой связью и электронным умножением). Представляны методы измерения и результаты испытаний на темновые токи, чувствительность выходного усилителя, эффективность переноса заряда, зарядную емкость и другие параметры. Исследования проводились на образцах следующих форматов: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024 и 1280×1024, как на пластине, так и в корпусе. В даній статті описано розроблену вимірювальну систему, що дозволяє досліджувати фотоелектричні параметри багатоелементних фотоприймачів, зокрема ПЗЗЕМ різних форматів. Представлено методики та результати вимірювань темнових струмів, чутливості вихідного підсилювача, ефективності передачі заряду, зарядової ємності та інших параметрів. Дослідження проводилися на зразках формату 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, 1280×1024 як на пластинах, так і в корпусах.
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167881
citation_txt Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats / V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 5-6. — С. 3-7. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT zabudskyv measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats
AT golenkovo measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats
AT rikhalskyo measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats
AT revav measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats
AT korinetss measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats
AT dukhnins measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats
AT mytiair measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats
AT zabudskyv izmeritelʹnaâsistemadlâtestirovaniâélektričeskihparametrovpzcéuraznogoformata
AT golenkovo izmeritelʹnaâsistemadlâtestirovaniâélektričeskihparametrovpzcéuraznogoformata
AT rikhalskyo izmeritelʹnaâsistemadlâtestirovaniâélektričeskihparametrovpzcéuraznogoformata
AT revav izmeritelʹnaâsistemadlâtestirovaniâélektričeskihparametrovpzcéuraznogoformata
AT korinetss izmeritelʹnaâsistemadlâtestirovaniâélektričeskihparametrovpzcéuraznogoformata
AT dukhnins izmeritelʹnaâsistemadlâtestirovaniâélektričeskihparametrovpzcéuraznogoformata
AT mytiair izmeritelʹnaâsistemadlâtestirovaniâélektričeskihparametrovpzcéuraznogoformata
AT zabudskyv vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu
AT golenkovo vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu
AT rikhalskyo vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu
AT revav vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu
AT korinetss vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu
AT dukhnins vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu
AT mytiair vimírûvalʹnasistemadlâtestuvannâelektričnihparametrívpzzemríznogoformatu
first_indexed 2025-12-07T13:13:00Z
last_indexed 2025-12-07T13:13:00Z
_version_ 1850855318508011520

Ähnliche Einträge