Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats

• Published in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Date: 2019
• Main Authors: Zabudsky, V., Golenkov, O., Rikhalsky, O., Reva, V., Korinets, S., Dukhnin, S., Mytiai, R.
• Format: Article
• Language: English
• Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2019
• Subjects: Электронные средства: исследования, разработки
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/167881
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats / V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 5-6. — С. 3-7. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents...