Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов
Разработана установка, позволяющая исследовать микропластичность алмазоподобных полупроводников. При температуре 300 K это достигается снятием кривых σ−ε или ε−t. В интервале 77–300 K зарождение дислокаций в приповерхностных слоях кристаллов можно регистрировать по изменениям электропроводности, вре...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физика и техника высоких давлений |
|---|---|
| Дата: | 2004 |
| Автори: | Надточий, В.А., Нечволод, Н.К., Москаль, Д.С. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2004
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/168075 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов / В.А. Надточий, Н.К. Нечволод, Д.С. Москаль // Физика и техника высоких давлений. — 2004. — Т. 14, № 2. — С. 117-121. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
Распределение дефектов в тонких полупроводниковых пластинах при низкотемпературной деформации
за авторством: Уколов, А.И., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Уколов, А.И., та інші
Опубліковано: (2013)
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014)
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть первая: Теоретические предпосылки
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014)
Установка для исследования свойств нераспыляемого геттера
за авторством: Гревцев, В.Г., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Гревцев, В.Г., та інші
Опубліковано: (2003)
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
за авторством: Павлюк, С.П., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Павлюк, С.П., та інші
Опубліковано: (2004)
Распределение термоупругих напряжений по поверхности монокристаллов GaAs, облучаемой лазерным импульсом
за авторством: Москаль, Д.С., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Москаль, Д.С., та інші
Опубліковано: (2008)
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
за авторством: Garkavenko, A. S., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Garkavenko, A. S., та інші
Опубліковано: (2014)
Корреляции низкотемпературных аномалий микропластичности со структурными превращениями в кристаллах С₆₀
за авторством: Фоменко, Л.С., та інші
Опубліковано: (1995)
за авторством: Фоменко, Л.С., та інші
Опубліковано: (1995)
Установка для исследования радиационных пластических характеристик топливных материалов
за авторством: Павлий, К.В.
Опубліковано: (2010)
за авторством: Павлий, К.В.
Опубліковано: (2010)
Установка для исследования воздействия потока электронов на деформацию металлов
за авторством: Айзацкий, Н.И., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Айзацкий, Н.И., та інші
Опубліковано: (2010)
Процессы микропластичности при высокочастотном механическом нагружении аустенитной стали с остаточным мартенситом
за авторством: Соколенко, В.И., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Соколенко, В.И., та інші
Опубліковано: (2015)
Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур
за авторством: Бойко, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Бойко, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2007)
Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур
за авторством: Попов, В.М., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Попов, В.М., та інші
Опубліковано: (2010)
Changes in lifetime of charge carriers and in Ge defective subsurface layer conductivity at thermal treatment
за авторством: Надточий, В.А., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Надточий, В.А., та інші
Опубліковано: (2004)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
за авторством: Рогов, Р.В., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Рогов, Р.В., та інші
Опубліковано: (2005)
Формирование наноструктур в Gе при условии дислокационно-поверхностной диффузии
за авторством: Надточий, В.А., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Надточий, В.А., та інші
Опубліковано: (2012)
Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур
за авторством: Popov, V. M., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Popov, V. M., та інші
Опубліковано: (2010)
Aвтоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур
за авторством: Boiko, Yu. V., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Boiko, Yu. V., та інші
Опубліковано: (2007)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
за авторством: Rogov, R. V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Rogov, R. V., та інші
Опубліковано: (2005)
Ударная установка для исследования газодинамических процессов в приборах снижения уровня звука выстрела
за авторством: Коновалов, Н.А., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Коновалов, Н.А., та інші
Опубліковано: (2010)
Модель формирования кластеров на поверхности полупроводниковых кристаллов группы А3В5
за авторством: Сычикова, Я.А.
Опубліковано: (2015)
за авторством: Сычикова, Я.А.
Опубліковано: (2015)
Установка комплексного исследования свойств материалов в неравновесных условиях
за авторством: Минаков, Н.В., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Минаков, Н.В., та інші
Опубліковано: (2010)
Экспериментальная установка для исследования процессов утилизации дисперсных частиц в двухфазном потоке
за авторством: Басок, Б.И., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Басок, Б.И., та інші
Опубліковано: (2006)
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть первая: Теоретические предпосылки
за авторством: Garkavenko, A. S., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Garkavenko, A. S., та інші
Опубліковано: (2014)
Экспериментальная установка для исследования процессов очистки газовых потоков от жидких высокодисперсных частиц
за авторством: Рыжков, С.С., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Рыжков, С.С., та інші
Опубліковано: (2010)
Установка для исследований агрегатов микрогэс
за авторством: Дедков, В.Н., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Дедков, В.Н., та інші
Опубліковано: (2012)
Экспериментальная установка для получения кластерных пучков
за авторством: Батурин, В.А., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Батурин, В.А., та інші
Опубліковано: (2006)
Рентгеновские исследования эффектов интеркаляции кристаллов фуллерита С₆₀ атомами Ne
за авторством: Легченкова, И.В., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Легченкова, И.В., та інші
Опубліковано: (2007)
Экспериментальная установка для анализа вторичных нейтральных частиц
за авторством: Батурин, В.А., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Батурин, В.А., та інші
Опубліковано: (2008)
Установка для исследований высокотеплопроводных материалов
за авторством: Мурованная, Л.С.
Опубліковано: (2004)
за авторством: Мурованная, Л.С.
Опубліковано: (2004)
Установка для поверки актинометрических приборов
за авторством: Иванов, Б.А., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Иванов, Б.А., та інші
Опубліковано: (2011)
Установка для деформирования волочением в криогенных условиях
за авторством: Волчок, О.И., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Волчок, О.И., та інші
Опубліковано: (2003)
Высокопроизводительная вакуумно-дуговая установка для осаждения покрытий
за авторством: Аксёнов, И.И., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Аксёнов, И.И., та інші
Опубліковано: (2008)
Методика и установка для исследования композиционных материалов при кручении в условиях температур до 3300 К
за авторством: Дзюба, В.С., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Дзюба, В.С., та інші
Опубліковано: (2003)
Двухпостовая установка для ТИГ сварки меди
за авторством: Грановский, Н.А., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Грановский, Н.А., та інші
Опубліковано: (2007)
Новая установка для ошиповки поверхностей нагрева
за авторством: Жук, Г.В., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Жук, Г.В., та інші
Опубліковано: (2006)
Экспериментальная установка для тестирования ВЧ-источников ионов
за авторством: Возный, В.И., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Возный, В.И., та інші
Опубліковано: (2003)
Установка толстослойного анодирования алюминия
за авторством: Сокол, В.А., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Сокол, В.А., та інші
Опубліковано: (2003)
Коґенерационная установка для теплоснабжения тепличного хозяйства
за авторством: Дубровская, В.В., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Дубровская, В.В., та інші
Опубліковано: (2009)
Телевизионная гидирующая установка
за авторством: Сухов, П.П., та інші
Опубліковано: (1988)
за авторством: Сухов, П.П., та інші
Опубліковано: (1988)
Схожі ресурси
-
Распределение дефектов в тонких полупроводниковых пластинах при низкотемпературной деформации
за авторством: Уколов, А.И., та інші
Опубліковано: (2013) -
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014) -
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть первая: Теоретические предпосылки
за авторством: Гаркавенко, А.С., та інші
Опубліковано: (2014) -
Установка для исследования свойств нераспыляемого геттера
за авторством: Гревцев, В.Г., та інші
Опубліковано: (2003) -
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
за авторством: Павлюк, С.П., та інші
Опубліковано: (2004)