Температурная стабильность решеток ЦМД в одноосной феррит-гранатовой пленке

Изучены спонтанные фазовые переходы в доменной структуре феррит-гранатовой пленки в температурном интервале от точки компенсации до температуры Нееля. При изменении температуры фазовые переходы в доменной границе вызывают фазовые переходы в решетке цилиндрических магнитных доменов (ЦМД). Показано, ч...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физика и техника высоких давлений
Дата:2017
Автори: Сирюк, Ю.А., Безус, А.В., Бондарь, Е.Д., Смирнов, В.В.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2017
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/168172
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Температурная стабильность решеток ЦМД в одноосной феррит-гранатовой пленке / Ю.А. Сирюк, А.В. Безус, Е.Д. Бондарь, В.В. Смирнов // Физика и техника высоких давлений. — 2017. — Т. 27, № 4. — С. 110-115. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Изучены спонтанные фазовые переходы в доменной структуре феррит-гранатовой пленки в температурном интервале от точки компенсации до температуры Нееля. При изменении температуры фазовые переходы в доменной границе вызывают фазовые переходы в решетке цилиндрических магнитных доменов (ЦМД). Показано, что температурный интервал устойчивости решетки ЦМД зависит от структуры доменных границ Spontaneous phase transitions in the domain structure of a ferrite-garnet film in the temperature range from the point of magnetic compensation to the Neel temperature have been studied. The phase transitions in the domain wall cause phase transitions in the bubble lattice at the temperature change. It is shown that the temperature range of stability of the bubble lattice depends on the structure of domain walls.
ISSN:0868-5924