Зображення обкладинки

Особенности методов контроля толщины тонких эпитаксиальных LSMO-пленок

Экспериментально изучены особенности контроля наноразмерной толщины пленок La₀.₇Sr₀.₃MnO₃ (LSMO) с помощью гравиметрического метода и SEM-изображений бокового скола пленки. Предложен косвенный метод контроля толщины пленок, основанный на анализе данных по относительному содержанию атомов в пленочных...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Физика и техника высоких давлений
Дата:	2017
Автори:	Николаенко, Ю.М., Бурховецкий, В.В., Корнеевец, А.С., Эфрос, Н.Б., Решидова, И.Ю., Тихий, А.А., Жихарев, И.В., Фарапонов, В.В.
Формат:	Стаття
Мова:	Російська
Опубліковано:	Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2017
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/168173
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Особенности методов контроля толщины тонких эпитаксиальных LSMO-пленок / Ю.М. Николаенко, В.В. Бурховецкий, А.С. Корнеевец, Н.Б. Эфрос, И.Ю. Решидова, А.А. Тихий, И.В. Жихарев, В.В. Фарапонов // Физика и техника высоких давлений. — 2017. — Т. 27, № 4. — С. 116-122. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Оптические и магниторезистивные свойства поликристаллических LSMO пленок на кристаллических подложках Al₂O₃ и Gd₃Ga₅O₁₂
за авторством: Тихий, А.А., та інші
Опубліковано: (2014)

Измерительное плечо интерферометра миллиметрового диапазона для контроля толщины тонких диэлектрических пленок
за авторством: Буданов, В.Е., та інші
Опубліковано: (2007)

Управление неоднородным состоянием в эпитаксиальных пленках La₀.₇Sr₀.₃MnO₃₋δ
за авторством: Николаенко, Ю.М., та інші
Опубліковано: (2017)

Микроволновый импеданс эпитаксиальных пленок высокотемпературных сверхпроводников
за авторством: Мелков, Г.А., та інші
Опубліковано: (1995)

Нелинейные СВЧ свойства эпитаксиальных пленок ВТСП
за авторством: Мелков, Г.А., та інші
Опубліковано: (1997)

Сублимационный источник для нанесения эпитаксиальных Si-Ge-плёнок
за авторством: Глушко, П.И., та інші
Опубліковано: (2014)

Система фотометрического контроля скорости травления тонких диэлектрических пленок
за авторством: Semyonova, S. E., та інші
Опубліковано: (2006)

Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
за авторством: Рогов, Р.В., та інші
Опубліковано: (2005)

Низкотемпературная люминесценция тонких пленок C₆₀ различной структуры
за авторством: Авдеенко, А.А., та інші
Опубліковано: (1999)

Измерение толщины тонких углеродных фольг методом кварцевого резонатора
за авторством: Батурин, В.А., та інші
Опубліковано: (2002)

Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
за авторством: Rogov, R. V., та інші
Опубліковано: (2005)

Спектр поглощения тонких пленок KPb₂Cl₅
за авторством: Юнакова, О.Н., та інші
Опубліковано: (2015)

Современные методы контроля остаточной толщины футеровки металлоприемника доменной печи
за авторством: Пинчук, Д.А., та інші
Опубліковано: (2005)

Нелинейно-упругое деформирование тонких композитных оболочек дискретно переменной толщины
за авторством: Луцкая, И.В., та інші
Опубліковано: (2016)

Аномальный размерный эффект в проводимости пленок висмута малой толщины
за авторством: Анопченко, А.С., та інші
Опубліковано: (1995)

Накладной электромагнитный преобразователь для контроля толщины и электропроводности
за авторством: Себко, В.П., та інші
Опубліковано: (2005)

Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок
за авторством: Стервоедов, А.Н., та інші
Опубліковано: (2010)

Влияние поля подмагничивания на характеристики магнитного сенсора на основе пленок железоиттриевого граната
за авторством: Николаенко, Ю.М., та інші
Опубліковано: (2017)

Структура, состав и механические свойства тонких пленок диборидов переходных металлов
за авторством: Гончаров, А.А., та інші
Опубліковано: (2015)

Резонансный метод определения толщин вакуумно-осажденных тонких пленок
за авторством: Кузьмин, А.В., та інші
Опубліковано: (2008)

Влияние азота на механические свойства тонких пленок системы Та—В—N
за авторством: Дуб, С.Н., та інші
Опубліковано: (2009)

Диаграмма аморфно-кристаллических состояний тонких пленок закиси азота
за авторством: Крайнюкова, Н.В., та інші
Опубліковано: (1995)

Методика нанесения тонких фуллереновых пленок на циркониевые подложки
за авторством: Щур, Д.В., та інші
Опубліковано: (2010)

Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀
за авторством: Пугачев, А.Т., та інші
Опубліковано: (1999)

Получение тонких алмазных пленок при магнетронном распылении графитовой мишени
за авторством: Костановский, А.В., та інші
Опубліковано: (2008)

Оптические свойства тонких плёнок TbSb₂
за авторством: Джабуа, З.У.
Опубліковано: (2016)

Приготовление тонких пленок TmS и их электрофизические свойства
за авторством: Тетелошвили, М.Г., та інші
Опубліковано: (2017)

Количественное определение прочности сцепления тонких металлических пленок со стеклом
за авторством: Белоус, В.А., та інші
Опубліковано: (2006)

Оптические свойства тонких плёнок диантимонида празеодима золотистой окраски
за авторством: Джабуа, З.У., та інші
Опубліковано: (2012)

Особенности электрофизических свойств тонких пленок NaBiTe₂
за авторством: Авотин, С.С., та інші
Опубліковано: (2007)

Магнитосопротивление ферромагнетиков и тонких многослойных пленок, обусловленное изменением модуля самопроизвольной намагниченности
за авторством: Власов, К.Б., та інші
Опубліковано: (1996)

Исследование кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника - дигидродибензотетраазааннулена
за авторством: Удовицкий, В.Г.
Опубліковано: (2008)

Экситонный спектр поглощения тонких пленок суперионного проводника CuPb₂Br₇
за авторством: Юнакова, О.Н., та інші
Опубліковано: (2016)

ИК спектры тонких пленок криоконденсатов изотопической смеси воды
за авторством: Алдияров, А., та інші
Опубліковано: (2002)

Применение технологии тонких пленок и наноструктурированных материалов при изготовлении теплонагруженных печатных плат
за авторством: Сахно, Э.А., та інші
Опубліковано: (2011)

Получение, свойства и применение тонких нанонеоднородных пленок Ge на GaAs-подложках
за авторством: Венгер, Е.Ф., та інші
Опубліковано: (2014)

Mагнитополевые и температурные зависимости критического тока в тонких эпитаксиальных пленках высокотемпературного сверхпроводника YBa₂Cu₃O₇₋d
за авторством: Федотов, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2002)

Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS
за авторством: Бобренко, Ю.Н., та інші
Опубліковано: (2009)

Экситонный спектр поглощения тонких пленок Rb₂ZnI₄
за авторством: Милославский, В.К., та інші
Опубліковано: (2008)

Влияние толщины и температуры пленок фталоцианина меди на их свойства
за авторством: Alieva, Kh. S.
Опубліковано: (2012)