Особенности методов контроля толщины тонких эпитаксиальных LSMO-пленок
Экспериментально изучены особенности контроля наноразмерной толщины пленок La₀.₇Sr₀.₃MnO₃ (LSMO) с помощью гравиметрического метода и SEM-изображений бокового скола пленки. Предложен косвенный метод контроля толщины пленок, основанный на анализе данных по относительному содержанию атомов в пленочных...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика и техника высоких давлений |
|---|---|
| Datum: | 2017 |
| Hauptverfasser: | Николаенко, Ю.М., Бурховецкий, В.В., Корнеевец, А.С., Эфрос, Н.Б., Решидова, И.Ю., Тихий, А.А., Жихарев, И.В., Фарапонов, В.В. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2017
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/168173 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Особенности методов контроля толщины тонких эпитаксиальных LSMO-пленок / Ю.М. Николаенко, В.В. Бурховецкий, А.С. Корнеевец, Н.Б. Эфрос, И.Ю. Решидова, А.А. Тихий, И.В. Жихарев, В.В. Фарапонов // Физика и техника высоких давлений. — 2017. — Т. 27, № 4. — С. 116-122. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
Оптические и магниторезистивные свойства поликристаллических LSMO пленок на кристаллических подложках Al₂O₃ и Gd₃Ga₅O₁₂
von: Тихий, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Тихий, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Измерительное плечо интерферометра миллиметрового диапазона для контроля толщины тонких диэлектрических пленок
von: Буданов, В.Е., et al.
Veröffentlicht: (2007)
von: Буданов, В.Е., et al.
Veröffentlicht: (2007)
Управление неоднородным состоянием в эпитаксиальных пленках La₀.₇Sr₀.₃MnO₃₋δ
von: Николаенко, Ю.М., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Николаенко, Ю.М., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Микроволновый импеданс эпитаксиальных пленок высокотемпературных сверхпроводников
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1995)
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1995)
Нелинейные СВЧ свойства эпитаксиальных пленок ВТСП
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1997)
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1997)
Сублимационный источник для нанесения эпитаксиальных Si-Ge-плёнок
von: Глушко, П.И., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Глушко, П.И., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Система фотометрического контроля скорости травления тонких диэлектрических пленок
von: Semyonova, S. E., et al.
Veröffentlicht: (2006)
von: Semyonova, S. E., et al.
Veröffentlicht: (2006)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
von: Рогов, Р.В., et al.
Veröffentlicht: (2005)
von: Рогов, Р.В., et al.
Veröffentlicht: (2005)
Низкотемпературная люминесценция тонких пленок C₆₀ различной структуры
von: Авдеенко, А.А., et al.
Veröffentlicht: (1999)
von: Авдеенко, А.А., et al.
Veröffentlicht: (1999)
Измерение толщины тонких углеродных фольг методом кварцевого резонатора
von: Батурин, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Батурин, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
von: Rogov, R. V., et al.
Veröffentlicht: (2005)
von: Rogov, R. V., et al.
Veröffentlicht: (2005)
Спектр поглощения тонких пленок KPb₂Cl₅
von: Юнакова, О.Н., et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Юнакова, О.Н., et al.
Veröffentlicht: (2015)
Современные методы контроля остаточной толщины футеровки металлоприемника доменной печи
von: Пинчук, Д.А., et al.
Veröffentlicht: (2005)
von: Пинчук, Д.А., et al.
Veröffentlicht: (2005)
Нелинейно-упругое деформирование тонких композитных оболочек дискретно переменной толщины
von: Луцкая, И.В., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Луцкая, И.В., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Аномальный размерный эффект в проводимости пленок висмута малой толщины
von: Анопченко, А.С., et al.
Veröffentlicht: (1995)
von: Анопченко, А.С., et al.
Veröffentlicht: (1995)
Накладной электромагнитный преобразователь для контроля толщины и электропроводности
von: Себко, В.П., et al.
Veröffentlicht: (2005)
von: Себко, В.П., et al.
Veröffentlicht: (2005)
Особенности применения рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для определения толщины ультратонких пленок
von: Стервоедов, А.Н., et al.
Veröffentlicht: (2010)
von: Стервоедов, А.Н., et al.
Veröffentlicht: (2010)
Влияние поля подмагничивания на характеристики магнитного сенсора на основе пленок железоиттриевого граната
von: Николаенко, Ю.М., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Николаенко, Ю.М., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Структура, состав и механические свойства тонких пленок диборидов переходных металлов
von: Гончаров, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Гончаров, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)
Резонансный метод определения толщин вакуумно-осажденных тонких пленок
von: Кузьмин, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)
von: Кузьмин, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)
Влияние азота на механические свойства тонких пленок системы Та—В—N
von: Дуб, С.Н., et al.
Veröffentlicht: (2009)
von: Дуб, С.Н., et al.
Veröffentlicht: (2009)
Диаграмма аморфно-кристаллических состояний тонких пленок закиси азота
von: Крайнюкова, Н.В., et al.
Veröffentlicht: (1995)
von: Крайнюкова, Н.В., et al.
Veröffentlicht: (1995)
Методика нанесения тонких фуллереновых пленок на циркониевые подложки
von: Щур, Д.В., et al.
Veröffentlicht: (2010)
von: Щур, Д.В., et al.
Veröffentlicht: (2010)
Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀
von: Пугачев, А.Т., et al.
Veröffentlicht: (1999)
von: Пугачев, А.Т., et al.
Veröffentlicht: (1999)
Получение тонких алмазных пленок при магнетронном распылении графитовой мишени
von: Костановский, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)
von: Костановский, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)
Оптические свойства тонких плёнок TbSb₂
von: Джабуа, З.У.
Veröffentlicht: (2016)
von: Джабуа, З.У.
Veröffentlicht: (2016)
Приготовление тонких пленок TmS и их электрофизические свойства
von: Тетелошвили, М.Г., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Тетелошвили, М.Г., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Количественное определение прочности сцепления тонких металлических пленок со стеклом
von: Белоус, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2006)
von: Белоус, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2006)
Оптические свойства тонких плёнок диантимонида празеодима золотистой окраски
von: Джабуа, З.У., et al.
Veröffentlicht: (2012)
von: Джабуа, З.У., et al.
Veröffentlicht: (2012)
Особенности электрофизических свойств тонких пленок NaBiTe₂
von: Авотин, С.С., et al.
Veröffentlicht: (2007)
von: Авотин, С.С., et al.
Veröffentlicht: (2007)
Магнитосопротивление ферромагнетиков и тонких многослойных пленок, обусловленное изменением модуля самопроизвольной намагниченности
von: Власов, К.Б., et al.
Veröffentlicht: (1996)
von: Власов, К.Б., et al.
Veröffentlicht: (1996)
Исследование кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника - дигидродибензотетраазааннулена
von: Удовицкий, В.Г.
Veröffentlicht: (2008)
von: Удовицкий, В.Г.
Veröffentlicht: (2008)
Экситонный спектр поглощения тонких пленок суперионного проводника CuPb₂Br₇
von: Юнакова, О.Н., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Юнакова, О.Н., et al.
Veröffentlicht: (2016)
ИК спектры тонких пленок криоконденсатов изотопической смеси воды
von: Алдияров, А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Алдияров, А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Применение технологии тонких пленок и наноструктурированных материалов при изготовлении теплонагруженных печатных плат
von: Сахно, Э.А., et al.
Veröffentlicht: (2011)
von: Сахно, Э.А., et al.
Veröffentlicht: (2011)
Получение, свойства и применение тонких нанонеоднородных пленок Ge на GaAs-подложках
von: Венгер, Е.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Венгер, Е.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS
von: Бобренко, Ю.Н., et al.
Veröffentlicht: (2009)
von: Бобренко, Ю.Н., et al.
Veröffentlicht: (2009)
Mагнитополевые и температурные зависимости критического тока в тонких эпитаксиальных пленках высокотемпературного сверхпроводника YBa₂Cu₃O₇₋d
von: Федотов, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Федотов, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Экситонный спектр поглощения тонких пленок Rb₂ZnI₄
von: Милославский, В.К., et al.
Veröffentlicht: (2008)
von: Милославский, В.К., et al.
Veröffentlicht: (2008)
Гальваномагнитные свойства тонких пленок висмута, легированного теллуром
von: Орлова, Д.С., et al.
Veröffentlicht: (2009)
von: Орлова, Д.С., et al.
Veröffentlicht: (2009)
Ähnliche Einträge
-
Оптические и магниторезистивные свойства поликристаллических LSMO пленок на кристаллических подложках Al₂O₃ и Gd₃Ga₅O₁₂
von: Тихий, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2014) -
Измерительное плечо интерферометра миллиметрового диапазона для контроля толщины тонких диэлектрических пленок
von: Буданов, В.Е., et al.
Veröffentlicht: (2007) -
Управление неоднородным состоянием в эпитаксиальных пленках La₀.₇Sr₀.₃MnO₃₋δ
von: Николаенко, Ю.М., et al.
Veröffentlicht: (2017) -
Микроволновый импеданс эпитаксиальных пленок высокотемпературных сверхпроводников
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1995) -
Нелинейные СВЧ свойства эпитаксиальных пленок ВТСП
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1997)