Особенности методов контроля толщины тонких эпитаксиальных LSMO-пленок
Экспериментально изучены особенности контроля наноразмерной толщины пленок La₀.₇Sr₀.₃MnO₃ (LSMO) с помощью гравиметрического метода и SEM-изображений бокового скола пленки. Предложен косвенный метод контроля толщины пленок, основанный на анализе данных по относительному содержанию атомов в пленочных...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика и техника высоких давлений |
|---|---|
| Datum: | 2017 |
| Hauptverfasser: | Николаенко, Ю.М., Бурховецкий, В.В., Корнеевец, А.С., Эфрос, Н.Б., Решидова, И.Ю., Тихий, А.А., Жихарев, И.В., Фарапонов, В.В. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2017
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/168173 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Особенности методов контроля толщины тонких эпитаксиальных LSMO-пленок / Ю.М. Николаенко, В.В. Бурховецкий, А.С. Корнеевец, Н.Б. Эфрос, И.Ю. Решидова, А.А. Тихий, И.В. Жихарев, В.В. Фарапонов // Физика и техника высоких давлений. — 2017. — Т. 27, № 4. — С. 116-122. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
Оптические и магниторезистивные свойства поликристаллических LSMO пленок на кристаллических подложках Al₂O₃ и Gd₃Ga₅O₁₂
von: Тихий, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Тихий, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Измерительное плечо интерферометра миллиметрового диапазона для контроля толщины тонких диэлектрических пленок
von: Буданов, В.Е., et al.
Veröffentlicht: (2007)
von: Буданов, В.Е., et al.
Veröffentlicht: (2007)
Управление неоднородным состоянием в эпитаксиальных пленках La₀.₇Sr₀.₃MnO₃₋δ
von: Николаенко, Ю.М., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Николаенко, Ю.М., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Микроволновый импеданс эпитаксиальных пленок высокотемпературных сверхпроводников
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1995)
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1995)
Нелинейные СВЧ свойства эпитаксиальных пленок ВТСП
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1997)
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1997)
Измерение толщины тонких углеродных фольг методом кварцевого резонатора
von: Батурин, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Батурин, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Спектр поглощения тонких пленок KPb₂Cl₅
von: Юнакова, О.Н., et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Юнакова, О.Н., et al.
Veröffentlicht: (2015)
Нелинейно-упругое деформирование тонких композитных оболочек дискретно переменной толщины
von: Луцкая, И.В., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Луцкая, И.В., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Система фотометрического контроля скорости травления тонких диэлектрических пленок
von: Semyonova, S. E., et al.
Veröffentlicht: (2006)
von: Semyonova, S. E., et al.
Veröffentlicht: (2006)
Аномальный размерный эффект в проводимости пленок висмута малой толщины
von: Анопченко, А.С., et al.
Veröffentlicht: (1995)
von: Анопченко, А.С., et al.
Veröffentlicht: (1995)
Структура, состав и механические свойства тонких пленок диборидов переходных металлов
von: Гончаров, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Гончаров, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)
Резонансный метод определения толщин вакуумно-осажденных тонких пленок
von: Кузьмин, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)
von: Кузьмин, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
von: Рогов, Р.В., et al.
Veröffentlicht: (2005)
von: Рогов, Р.В., et al.
Veröffentlicht: (2005)
Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀
von: Пугачев, А.Т., et al.
Veröffentlicht: (1999)
von: Пугачев, А.Т., et al.
Veröffentlicht: (1999)
Влияние азота на механические свойства тонких пленок системы Та—В—N
von: Дуб, С.Н., et al.
Veröffentlicht: (2009)
von: Дуб, С.Н., et al.
Veröffentlicht: (2009)
Методика нанесения тонких фуллереновых пленок на циркониевые подложки
von: Щур, Д.В., et al.
Veröffentlicht: (2010)
von: Щур, Д.В., et al.
Veröffentlicht: (2010)
Получение тонких алмазных пленок при магнетронном распылении графитовой мишени
von: Костановский, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)
von: Костановский, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)
Оптические свойства тонких плёнок диантимонида празеодима золотистой окраски
von: Джабуа, З.У., et al.
Veröffentlicht: (2012)
von: Джабуа, З.У., et al.
Veröffentlicht: (2012)
Количественное определение прочности сцепления тонких металлических пленок со стеклом
von: Белоус, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2006)
von: Белоус, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2006)
Исследование кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника - дигидродибензотетраазааннулена
von: Удовицкий, В.Г.
Veröffentlicht: (2008)
von: Удовицкий, В.Г.
Veröffentlicht: (2008)
Магнитосопротивление ферромагнетиков и тонких многослойных пленок, обусловленное изменением модуля самопроизвольной намагниченности
von: Власов, К.Б., et al.
Veröffentlicht: (1996)
von: Власов, К.Б., et al.
Veröffentlicht: (1996)
ИК спектры тонких пленок криоконденсатов изотопической смеси воды
von: Алдияров, А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Алдияров, А., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS
von: Бобренко, Ю.Н., et al.
Veröffentlicht: (2009)
von: Бобренко, Ю.Н., et al.
Veröffentlicht: (2009)
Применение технологии тонких пленок и наноструктурированных материалов при изготовлении теплонагруженных печатных плат
von: Сахно, Э.А., et al.
Veröffentlicht: (2011)
von: Сахно, Э.А., et al.
Veröffentlicht: (2011)
Получение, свойства и применение тонких нанонеоднородных пленок Ge на GaAs-подложках
von: Венгер, Е.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Венгер, Е.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Гальваномагнитные свойства тонких пленок висмута, легированного теллуром
von: Орлова, Д.С., et al.
Veröffentlicht: (2009)
von: Орлова, Д.С., et al.
Veröffentlicht: (2009)
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
von: Rogov, R. V., et al.
Veröffentlicht: (2005)
von: Rogov, R. V., et al.
Veröffentlicht: (2005)
Оптимизация технологии “хлоридной” обработки тонких пленок халькогенидов кадмия
von: Харченко, Н.М., et al.
Veröffentlicht: (2008)
von: Харченко, Н.М., et al.
Veröffentlicht: (2008)
Структура тонких пленок С₆₀ на (100) NaCl
von: Горбенко, Н.И., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Горбенко, Н.И., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
von: Храмов, Е.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2003)
von: Храмов, Е.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2003)
Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
von: Удовицкий, В.Г.
Veröffentlicht: (2003)
von: Удовицкий, В.Г.
Veröffentlicht: (2003)
Исследование структуры и химического состава тонких поликристаллических пленок сульфида кадмия при γ-облучении
von: Голованова, В.В., et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Голованова, В.В., et al.
Veröffentlicht: (2015)
Влияние толщины и температуры пленок фталоцианина меди на их свойства
von: Alieva, Kh. S.
Veröffentlicht: (2012)
von: Alieva, Kh. S.
Veröffentlicht: (2012)
Влияние толщины и температуры пленок фталоцианина меди на их свойства
von: Алиева, Х.С.
Veröffentlicht: (2012)
von: Алиева, Х.С.
Veröffentlicht: (2012)
Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности
von: Прохоров, В.Г.
Veröffentlicht: (1998)
von: Прохоров, В.Г.
Veröffentlicht: (1998)
Усиление наноструктурированной поверхностью серебра инфракрасного поглощения низкотемпературных тонких пленок урацила
von: Иванов, А.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Иванов, А.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Определение пластических свойств тонких пленок по данным индентирования
von: Валеева, И.К., et al.
Veröffentlicht: (2007)
von: Валеева, И.К., et al.
Veröffentlicht: (2007)
Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS
von: Bobrenko, Yu. N., et al.
Veröffentlicht: (2009)
von: Bobrenko, Yu. N., et al.
Veröffentlicht: (2009)
X Международная конференция «Физика и технология тонких пленок»
von: Харченко, Г.К.
Veröffentlicht: (2005)
von: Харченко, Г.К.
Veröffentlicht: (2005)
Вольт-фарадные измерения в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs
von: Горев, Н.Б., et al.
Veröffentlicht: (2009)
von: Горев, Н.Б., et al.
Veröffentlicht: (2009)
Ähnliche Einträge
-
Оптические и магниторезистивные свойства поликристаллических LSMO пленок на кристаллических подложках Al₂O₃ и Gd₃Ga₅O₁₂
von: Тихий, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2014) -
Измерительное плечо интерферометра миллиметрового диапазона для контроля толщины тонких диэлектрических пленок
von: Буданов, В.Е., et al.
Veröffentlicht: (2007) -
Управление неоднородным состоянием в эпитаксиальных пленках La₀.₇Sr₀.₃MnO₃₋δ
von: Николаенко, Ю.М., et al.
Veröffentlicht: (2017) -
Микроволновый импеданс эпитаксиальных пленок высокотемпературных сверхпроводников
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1995) -
Нелинейные СВЧ свойства эпитаксиальных пленок ВТСП
von: Мелков, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (1997)