Гордиенко, Ю., Левченко, А., & Щербань, И. (2018). Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии. Журнал физики и инженерии поверхности.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Гордиенко, Ю.Е, А.В Левченко, та И.Н Щербань. "Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии." Журнал физики и инженерии поверхности 2018.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Гордиенко, Ю.Е, et al. "Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии." Журнал физики и инженерии поверхности, 2018.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.