Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии

• Veröffentlicht in: Журнал физики и инженерии поверхности
• Datum: 2018
• Hauptverfasser: Гордиенко, Ю.Е., Левченко, А.В., Щербань, И.Н.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2018
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/168186
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю.Е. Гордиенко, А.В. Левченко, И.Н. Щербань // Журнал фізики та інженерії поверхні. — 2018. — Т. 3, № 1. — С. 19-25. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.

В работе численно исследуются приёмы построения изображений в СММ, обеспечивающие визуализацию профилей распределения физических параметров объекта в приповерхностной области. Показано, что изображение фундаментальных сигналов изменения резонансной частоты и добротности резонаторного сканирующего зо...