Быткин, С. (2018). Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Журнал физики и инженерии поверхности.
Chicago Style (17th ed.) CitationБыткин, С.В. "Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений." Журнал физики и инженерии поверхности 2018.
MLA (8th ed.) CitationБыткин, С.В. "Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений." Журнал физики и инженерии поверхности, 2018.