Быткин, С. (2018). Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Журнал физики и инженерии поверхности.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Быткин, С.В. "Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений." Журнал физики и инженерии поверхности 2018.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Быткин, С.В. "Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений." Журнал физики и инженерии поверхности, 2018.