Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл

Проведен анализ технологических особенностей процессов DC- и RF- магнетронных разрядов. Показано, что различия в образовании и поддержании плазменной оболочки оказывают различное воздействие на распыляемый и осаждаемый материал. Потенциалы плазмы и потоки частиц на подложку являются основными фактор...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Журнал физики и инженерии поверхности
Дата:2018
Автори: Буранич, В.В., Шелест, И.В., Гончаров, А.А., Юнда, А.Н., Гончарова, С.А.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2018
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/168200
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл / В.В. Буранич, И.В. Шелест, А.А. Гончаров, А.Н. Юнда, С.А. Гончарова // Журнал фізики та інженерії поверхні. — 2018. — Т. 3, № 3. — С. 89-99. — Бібліогр.: 20 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862679642144505856
author Буранич, В.В.
Шелест, И.В.
Гончаров, А.А.
Юнда, А.Н.
Гончарова, С.А.
author_facet Буранич, В.В.
Шелест, И.В.
Гончаров, А.А.
Юнда, А.Н.
Гончарова, С.А.
citation_txt Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл / В.В. Буранич, И.В. Шелест, А.А. Гончаров, А.Н. Юнда, С.А. Гончарова // Журнал фізики та інженерії поверхні. — 2018. — Т. 3, № 3. — С. 89-99. — Бібліогр.: 20 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Журнал физики и инженерии поверхности
description Проведен анализ технологических особенностей процессов DC- и RF- магнетронных разрядов. Показано, что различия в образовании и поддержании плазменной оболочки оказывают различное воздействие на распыляемый и осаждаемый материал. Потенциалы плазмы и потоки частиц на подложку являются основными факторами энергетической бомбардировки подложки, и сильно зависят от технологических особенностей распылительной системы. Проведено аналіз технологічних особливостей процесів DC- і RF- магнетронних розрядів. Встановлено, що відмінності в утворенні та підтримці плазмової оболонки по-різному впливають на матеріал, який розпорошується та на який осаджується покриття. Потенціали плазми і потоки частинок на підкладинку є основними факторами енергетичного бомбардування підкладинки, і сильно залежать від технологічних особливостей розпилювальної системи. The analysis of technological features of DC- and RF-magnetron discharges processes was carried out. It is shown that distinctions in the formation and maintenance of the plasma sheath have different effects on the sputtered and deposited material. Plasma potentials and particle fluxes onto the substrate are the main factors of the energy bombardment of the substrate, and are highly dependent on the technological features of the sputtering system.
first_indexed 2025-12-07T15:44:07Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-168200
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2519-2485
language Russian
last_indexed 2025-12-07T15:44:07Z
publishDate 2018
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
record_format dspace
spelling Буранич, В.В.
Шелест, И.В.
Гончаров, А.А.
Юнда, А.Н.
Гончарова, С.А.
2020-04-25T14:18:09Z
2020-04-25T14:18:09Z
2018
Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл / В.В. Буранич, И.В. Шелест, А.А. Гончаров, А.Н. Юнда, С.А. Гончарова // Журнал фізики та інженерії поверхні. — 2018. — Т. 3, № 3. — С. 89-99. — Бібліогр.: 20 назв. — рос.
2519-2485
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/168200
621.739+548.735
Проведен анализ технологических особенностей процессов DC- и RF- магнетронных разрядов. Показано, что различия в образовании и поддержании плазменной оболочки оказывают различное воздействие на распыляемый и осаждаемый материал. Потенциалы плазмы и потоки частиц на подложку являются основными факторами энергетической бомбардировки подложки, и сильно зависят от технологических особенностей распылительной системы.
Проведено аналіз технологічних особливостей процесів DC- і RF- магнетронних розрядів. Встановлено, що відмінності в утворенні та підтримці плазмової оболонки по-різному впливають на матеріал, який розпорошується та на який осаджується покриття. Потенціали плазми і потоки частинок на підкладинку є основними факторами енергетичного бомбардування підкладинки, і сильно залежать від технологічних особливостей розпилювальної системи.
The analysis of technological features of DC- and RF-magnetron discharges processes was carried out. It is shown that distinctions in the formation and maintenance of the plasma sheath have different effects on the sputtered and deposited material. Plasma potentials and particle fluxes onto the substrate are the main factors of the energy bombardment of the substrate, and are highly dependent on the technological features of the sputtering system.
ru
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Журнал физики и инженерии поверхности
Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл
Технологічні особливості DC та RF магнетронного розпорошення
Technological features of DC and RF magnetron sputtering
Article
published earlier
spellingShingle Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл
Буранич, В.В.
Шелест, И.В.
Гончаров, А.А.
Юнда, А.Н.
Гончарова, С.А.
title Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл
title_alt Технологічні особливості DC та RF магнетронного розпорошення
Technological features of DC and RF magnetron sputtering
title_full Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл
title_fullStr Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл
title_full_unstemmed Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл
title_short Технологические особенности DC и RF магнетронного распыл
title_sort технологические особенности dc и rf магнетронного распыл
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/168200
work_keys_str_mv AT buraničvv tehnologičeskieosobennostidcirfmagnetronnogoraspyl
AT šelestiv tehnologičeskieosobennostidcirfmagnetronnogoraspyl
AT gončarovaa tehnologičeskieosobennostidcirfmagnetronnogoraspyl
AT ûndaan tehnologičeskieosobennostidcirfmagnetronnogoraspyl
AT gončarovasa tehnologičeskieosobennostidcirfmagnetronnogoraspyl
AT buraničvv tehnologíčníosoblivostídctarfmagnetronnogorozporošennâ
AT šelestiv tehnologíčníosoblivostídctarfmagnetronnogorozporošennâ
AT gončarovaa tehnologíčníosoblivostídctarfmagnetronnogorozporošennâ
AT ûndaan tehnologíčníosoblivostídctarfmagnetronnogorozporošennâ
AT gončarovasa tehnologíčníosoblivostídctarfmagnetronnogorozporošennâ
AT buraničvv technologicalfeaturesofdcandrfmagnetronsputtering
AT šelestiv technologicalfeaturesofdcandrfmagnetronsputtering
AT gončarovaa technologicalfeaturesofdcandrfmagnetronsputtering
AT ûndaan technologicalfeaturesofdcandrfmagnetronsputtering
AT gončarovasa technologicalfeaturesofdcandrfmagnetronsputtering