Воздействие высокоэнергетичного пучка электронов на пластическую деформацию металлов

• Дата: 2010
• Автори: Дубинко, В.И., Довбня, А.Н., Кушнир, В.А., Митроченко, В.В., Ходак, И.В., Лебедев, В.П., Крыловский, В.С., Лебедев, С.В., Клепиков, В.Ф.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2010
• Теми: Применение ускорителей
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17033
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Воздействие высокоэнергетичного пучка электронов на пластическую деформацию металлов / В.И. Дубинко, А.Н. Довбня, В.А. Кушнир, В.В. Митроченко, И.В. Ходак, В.П. Лебедев, В.С. Крыловский, С.В. Лебедев, В.Ф. Клепиков // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 3. — С. 140-144. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Изучено влияние электронного пучка с энергией 0.5 МэВ и плотностью потока 1х10^14 см^-2•с^-1 на деформацию поликристаллического алюминия (99.5%) и меди (99.5%) при одноосном растяжении со скоростью 2х10^-4 с^-1 при комнатной температуре. В режиме дифференциального воздействия пучка определены начальное снижение уровня деформирующего напряжения и коэффициент упрочнения как функция относительного удлинения и толщины образца. Досліджено вплив електронного пучка з енергією 0.5 МеВ і щільністю потоку 1х10^14 см^-2•с^-1 на деформацію полікристалічного алюмінію (99.5%) і міді (99.5%) при одноосьовому розтяганні зі швидкістю 2х10^-4 с^-1 при кімнатній температурі. У режимі диференційної дії пучка визначено початкове зниження рівня деформуючої напруги, коефіцієнт зміцнення як функція відносного видовження та товщини зразка. In the present paper, we report on the effect of electron beam of (0.5 MeV energy and 1х10^14 сm^-2•s^-1 density) on plastic deformation of polycrystalline aluminum (99.5%) and copper (99.5%) under uniaxial deformation at a rate of 2х10^-4 s^-1 at room temperature. Radiation-induced decrease of the flow stress has been measured as a function of the sample thickness.