Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности

Представлены конструкция и принцип работы системы для измерения остаточной поверхностной β-активности образца, облученного пучком тормозного излучения или электронов. В измерительной системе используется тонкий планарный кремниевый детектор с высокой эффективностью регистрации β-частиц, что позволяе...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2010
Автори:	Айзацкий, Н.И., Кулибаба, В.И., Маслов, Н.И., Мац, В.А., Овчинник, В.Д., Шраменко, Б.И.
Формат:	Стаття
Мова:	Russian
Опубліковано:	Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2010
Теми:	Применение ускорителей
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17042
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности / Н.И. Айзацкий, В.И. Кулибаба, Н.И. Маслов, В.А. Мац, В.Д. Овчинник, Б.И. Шраменко // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 3. — С. 180-183. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-17042
record_format	dspace
spelling	nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-170422025-02-09T14:36:24Z Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности Система для вимірювання профілю пучка гама-квантів та електронів по розподіленню поверхневої β-активності Measuring system of electrons and gamma-radiation beam profiles by measurment of surface β-activity distribution Айзацкий, Н.И. Кулибаба, В.И. Маслов, Н.И. Мац, В.А. Овчинник, В.Д. Шраменко, Б.И. Применение ускорителей Представлены конструкция и принцип работы системы для измерения остаточной поверхностной β-активности образца, облученного пучком тормозного излучения или электронов. В измерительной системе используется тонкий планарный кремниевый детектор с высокой эффективностью регистрации β-частиц, что позволяет надежно идентифицировать их на фоне гамма-квантов β-распада и, тем самым, получить достоверную информацию о распределении β-активности. С использованием данной системы были проведены исследования возможности измерения профилей как интенсивных пучков электронов, так и генерированного ими в конвертере тормозного излучения. Представлено конструкцію та принцип роботи системи для виміру залишкової поверхневої β-активності зразка, опроміненого пучком гальмового випромінювання або електронів. У вимірювальній системі використовується тонкий планарный кремнієвий детектор з високою ефективністю реєстрації β-частинок, що дозволяє надійно ідентифікувати їх на тлі гамма-квантів β-розпаду і, тим самим, одержати достовірну інформацію про розподіл β-активності. З використанням даної системи були проведені дослідження можливості виміру профілів як інтенсивних пучків електронів, так і генерованого ними в конвертері гальмового випромінювання. The system allows to measure distribution of surficial β-activity target, which radiation-exposed in the stream of gamma-radiation or electrons. The profile of residual β-activity of the thin radiation-exposed target corresponds the profile of primary beam of gamma-radiation or electrons with energies higher than threshold of nuclear reactions. Activity of the explored area of target is registered a semiconductor silicon detector. Distribution of activity target along the line of scanout is formed by the multiport ADC. The system allows to define the profile of gamma-radiation or electrons beams on the output of accelerator. Работа выполнена при поддержке гранта УНТЦ, # Р228. 2010 Article Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности / Н.И. Айзацкий, В.И. Кулибаба, Н.И. Маслов, В.А. Мац, В.Д. Овчинник, Б.И. Шраменко // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 3. — С. 180-183. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 1562-6016 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17042 621.384 ru application/pdf Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
topic	Применение ускорителей Применение ускорителей
spellingShingle	Применение ускорителей Применение ускорителей Айзацкий, Н.И. Кулибаба, В.И. Маслов, Н.И. Мац, В.А. Овчинник, В.Д. Шраменко, Б.И. Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности
description	Представлены конструкция и принцип работы системы для измерения остаточной поверхностной β-активности образца, облученного пучком тормозного излучения или электронов. В измерительной системе используется тонкий планарный кремниевый детектор с высокой эффективностью регистрации β-частиц, что позволяет надежно идентифицировать их на фоне гамма-квантов β-распада и, тем самым, получить достоверную информацию о распределении β-активности. С использованием данной системы были проведены исследования возможности измерения профилей как интенсивных пучков электронов, так и генерированного ими в конвертере тормозного излучения.
format	Article
author	Айзацкий, Н.И. Кулибаба, В.И. Маслов, Н.И. Мац, В.А. Овчинник, В.Д. Шраменко, Б.И.
author_facet	Айзацкий, Н.И. Кулибаба, В.И. Маслов, Н.И. Мац, В.А. Овчинник, В.Д. Шраменко, Б.И.
author_sort	Айзацкий, Н.И.
title	Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности
title_short	Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности
title_full	Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности
title_fullStr	Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности
title_full_unstemmed	Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности
title_sort	система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности
publisher	Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
publishDate	2010
topic_facet	Применение ускорителей
url	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17042
citation_txt	Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности / Н.И. Айзацкий, В.И. Кулибаба, Н.И. Маслов, В.А. Мац, В.Д. Овчинник, Б.И. Шраменко // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 3. — С. 180-183. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
work_keys_str_mv	AT ajzackijni sistemadlâizmereniâprofilâpučkagammakvantoviélektronovporaspredeleniûpoverhnostnojbaktivnosti AT kulibabavi sistemadlâizmereniâprofilâpučkagammakvantoviélektronovporaspredeleniûpoverhnostnojbaktivnosti AT maslovni sistemadlâizmereniâprofilâpučkagammakvantoviélektronovporaspredeleniûpoverhnostnojbaktivnosti AT macva sistemadlâizmereniâprofilâpučkagammakvantoviélektronovporaspredeleniûpoverhnostnojbaktivnosti AT ovčinnikvd sistemadlâizmereniâprofilâpučkagammakvantoviélektronovporaspredeleniûpoverhnostnojbaktivnosti AT šramenkobi sistemadlâizmereniâprofilâpučkagammakvantoviélektronovporaspredeleniûpoverhnostnojbaktivnosti AT ajzackijni sistemadlâvimírûvannâprofílûpučkagamakvantívtaelektronívporozpodílennûpoverhnevoíbaktivností AT kulibabavi sistemadlâvimírûvannâprofílûpučkagamakvantívtaelektronívporozpodílennûpoverhnevoíbaktivností AT maslovni sistemadlâvimírûvannâprofílûpučkagamakvantívtaelektronívporozpodílennûpoverhnevoíbaktivností AT macva sistemadlâvimírûvannâprofílûpučkagamakvantívtaelektronívporozpodílennûpoverhnevoíbaktivností AT ovčinnikvd sistemadlâvimírûvannâprofílûpučkagamakvantívtaelektronívporozpodílennûpoverhnevoíbaktivností AT šramenkobi sistemadlâvimírûvannâprofílûpučkagamakvantívtaelektronívporozpodílennûpoverhnevoíbaktivností AT ajzackijni measuringsystemofelectronsandgammaradiationbeamprofilesbymeasurmentofsurfacebactivitydistribution AT kulibabavi measuringsystemofelectronsandgammaradiationbeamprofilesbymeasurmentofsurfacebactivitydistribution AT maslovni measuringsystemofelectronsandgammaradiationbeamprofilesbymeasurmentofsurfacebactivitydistribution AT macva measuringsystemofelectronsandgammaradiationbeamprofilesbymeasurmentofsurfacebactivitydistribution AT ovčinnikvd measuringsystemofelectronsandgammaradiationbeamprofilesbymeasurmentofsurfacebactivitydistribution AT šramenkobi measuringsystemofelectronsandgammaradiationbeamprofilesbymeasurmentofsurfacebactivitydistribution
first_indexed	2025-11-26T21:40:14Z
last_indexed	2025-11-26T21:40:14Z
_version_	1849890668289196032
fulltext	УДК 621.384 СИСТЕМА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЯ ПУЧКА ГАММА-КВАНТОВ И ЭЛЕКТРОНОВ ПО РАСПРЕДЕЛЕНИЮ ПОВЕРХНОСТНОЙ β-АКТИВНОСТИ Н.И. Айзацкий, В.И. Кулибаба, Н.И. Маслов, В.А. Мац, В.Д. Овчинник, Б.И. Шраменко Национальный научный центр «Харьковский физико-технический институт», Харьков, Украина E-mail: bshram@kipt.kharkov.ua Представлены конструкция и принцип работы системы для измерения остаточной поверхностной β- активности образца, облученного пучком тормозного излучения или электронов. В измерительной системе используется тонкий планарный кремниевый детектор с высокой эффективностью регистрации β-частиц, что позволяет надежно идентифицировать их на фоне гамма-квантов β-распада и, тем самым, получить дос- товерную информацию о распределении β-активности. С использованием данной системы были проведены исследования возможности измерения профилей как интенсивных пучков электронов, так и генерированного ими в конвертере тормозного излучения. 1. ВВЕДЕНИЕ При проведении исследований на пучках элек- тронов и тормозного гамма-излучения наряду с та- кими параметрами как энергия и интенсивность из- лучения требуется также знание пространственных характеристик излучения, в частности, плотности распределения пучка в поперечном сечении. Такое требование с особенной остротой возника- ет при фотоядерном способе производства радио- нуклидов, когда от плотности распределения ини- циирующего пучка гамма-излучения зависит эффек- тивность наработки радионуклидов в заданном объ- еме изотопной мишени. Методика определения профиля пучка гамма- квантов по профилю наведенной поверхностной гамма-активности тонких образцов, экспонирован- ных на пучке гамма-излучения, реализована и ис- пользовалась в эксперименте [1,2]. Так как бета-распад радиоактивных ядер сопро- вождается выходом гамма-квантов, то измерение профиля поверхностной остаточной активности об- разцов, подвергшихся облучению пучками гамма- излучения и электронов, возможно как путем реги- страции β-частиц, так и гамма-квантов. Нами были проведены исследования возможности измерения профилей как интенсивных пучков элек- тронов, так и генерированного ими в конвертере тор- мозного излучения путем регистрации β-частиц. Так как остаточная γ,β-активность образца обу- словлена изотопами, образующимися, в основном, в результате фотоядерных (γ,n), (γ,р) и электроядер- ных (е,n)-, (е,р)-реакций, то профиль остаточной γ,β- активности тонкого облученного образца отражает профиль первичного пучка гамма-квантов или элек- тронов с энергиями выше порога вышеуказанных ядерных реакций. Это обстоятельство позволяет получить инфор- мацию о профилях исходных пучков в различных энергетических диапазонах путем использования образцов с различными значениями порогов ядер- ных реакций. Например, для образца из тантала энергетический порог (γ,n)-реакции равен 7,85 МэВ, а для образца из углерода − 18,75 МэВ. Одним из наиболее значимых преимуществ этой методики [1,2] перед другими состоит в том, что она позволяет ”отсечь“ вклад низкоэнергетической час- ти спектров частиц первичных пучков, которые при- сутствуют (особенно для тормозного излучения) в первичных пучках и препятствуют определению их истинного профиля. Ниже приведены результаты измерений профи- лей пучков гамма-излучения и электронов путем регистрации β-частиц, излучаемых тонкими метал- лическими образцами, облученными на ускорителе ЛУ-40М как непосредственно электронным пучком, так и тормозным излучением этого пучка, генери- руемым в танталовом конвертере. 2. КОНСТРУКЦИЯ СИСТЕМЫ И МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЙ В отличие от других систем аналогичного назна- чения в разработанной системе используется прин- цип регистрации β-частиц (а не гамма-квантов) с помощью кремниевого детектора толщиной 300 мкм, что дает возможность надёжно отделить сигналы, создаваемые β-частицами, от сигналов, создаваемых в детекторе гамма-квантами, которые сопровождают бета-распад радиоактивного ядра. С другой стороны, так как проникающая способ- ность гамма-квантов больше, чем у β-частиц, то принцип регистрации β-частиц, в отличие от гамма- квантов, позволяет более корректно коллимировать их и, следовательно, обеспечить хорошее простран- ственное разрешение системы. Принципиальная блок-схема системы показана на Рис.1. Телесный угол а, следовательно, и пространст- венное разрешение измерительной системы задают- ся свинцовым коллиматором диаметром 1,5 мм, ко- торый установлен непосредственно перед детекто- ром, а сканирование активной области осуществля- ется путём перемещения предметного столика с об- разцом (по Х-координате). ____________________________________________________________ PROBLEMS OF ATOMIC SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2010. № 3. 180 Series: Nuclear Physics Investigations (54), p.180-183. mailto:bshram@kipt.kharkov.ua Рис.1. Блок-схема системы: 1 − детекторная головка; 2 − столик перемещения образца; 3 − интенсиметр с дискриминацией нижнего уровня; 4 − потенциометр; 5 − многовходовой АЦП; 6 − компьютер с монитором и дисковой памятью Сигнал индикации перемещения образца в виде напряжения с потенциометра (связанного с пред- метным столиком) подаётся на вход «Х» многовхо- дового АЦП типа PCL-1711-L. Активность иссле- дуемой области образца регистрируется полупро- водниковым кремниевым детектором размерами 2×2×0,3 мм. Сигнал с детектора после предварительного уси- ления, дополнительного усиления и формирования в виде сигнала с интенсиметра поступает на вход «Υ» того же АЦП. Таким образом, при перемещении образца формируется распределение Y=f(X) актив- ности образца вдоль линии сканирования. Конст- рукция системы предусматривает также перемеще- ние образца в направлении, перпендикулярном на- правлению сканирования, с помощью микрометри- ческого винта. Измерение таких распределений по- зволяет определить полный профиль пучка гамма- излучения или электронов на выходе ускорителя на площади (40×68) мм2. Согласно статистическому анализу работы электронных схем в режиме интен- симетра [3] при временах измерений Т, значительно превышающих постоянную времени (RC) накопи- тельной емкости (что практически всегда выполня- ется), относительная стандартная ошибка )(Qσ из- мерения среднего значения Q накопительной емко- сти в конечном счете сводится к выражению: ( ) aTQQ 1=σ , (1) где а − скорость счета; аТ − полное число счетов за время Т. Таким образом, ошибка измерений поверхност- ной β-активности образца определяется статистиче- ской ошибкой. Общий вид системы показан на Рис.2. 3. РЕЗУЛЬТАТЫ ИЗМЕРЕНИЙ Пространственная разрешающая способность разработанной системы может изменяться в широ- ких пределах путем выбора диаметра коллиматора. Уменьшением диаметра коллиматора пространст- венную разрешающую способность системы можно сделать сколь угодно малой (вплоть до нескольких десятых миллиметра), однако при этом уменьшается светосила системы и, соответственно, увеличивает- ся время, необходимое для получения измеряемого распределения с хорошей статистикой. Уменьшение диаметра коллиматора, кроме того, влечет за собой неоправданное увеличение активности измеряемого образца, что также нежелательно. Поэтому в качест- ве компромисного варианта был выбран диаметр коллиматора 1,5 мм. 1 3 5 4 2 6 Рис.2. Общий вид системы измерения профиля поверхностной β-активности образца. (На переднем плане виден столик для перемещения образца и детекторная головка) При сканировании профиля пучка по оси «Х» про- странственная разрешающая способность системы Δx была измерена экспериментально. Она определялась путем измерения зависимости интенсивности β- источника малых размеров (диаметром 0,3 мм) при сканировании им «поля зрения» коллиматора (диа- метром 1,5 мм). Такой малопротяженный β-источник 186Re был получен путем облучения мишени из при- родного Re на исследуемом пучке тормозного излу- чения (согласно реакции187Re(γ,n)186Re). Результаты измерений разрешающей способности системы пред- ставлены на Рис.3. Рис.3. Зависимость интенсивности β-источника 186Re диаметром Φ=0,3 мм от его положения при сканировании «поля зрения» коллиматора диаметром 1,5 мм (шкала в сантиметрах) Как видно из Рис.3, ширина распределения (FWHM), определяющая пространственную разре- шающую способность системы Δx, составляет 2,5 мм. Полученная величина разрешающей способ- ности вполне приемлема для практического исполь- зования, так как позволяет при умеренной активно- сти образца в течение нескольких минут измерить профиль пучка с хорошей статистикой. С другой стороны, следует отметить, что указанная величина Δx будет существенно сказываться при измерении наведенной активности в пятне малого размера, 181 сравнимого с Δx. При более широких распределени- ях активности, с которыми приходится иметь дело на практике, ее влияние будет незначительным. В настоящей разработке предусмотрена также возможность измерения вклада гамма-квантов бета- распада в измеряемое распределение поверхностной активности. Для этого при измерениях перед кол- лиматором устанавливался поглотитель из меди, который полностью поглощал бэта-частицы и “про- пускал” гамма-кванты. На Рис.4 показаны профили поверхностной бэта- активности тонкого образца из молибдена, измерен- ные с поглотителем и без поглотителя бэта-частиц. Образец из молибдена толщиной 90 мкм облучался пучком гамма-излучения с максимальной энергией 40 МэВ. Профили измерены в режиме дискретного перемещения предметного столика с набором ак- тивности для выбранного положения образца (изме- рение “по точкам”). Из рисунка видно, что при измерениях “по точ- кам” может быть набрано заданное число отсчетов (статистика) путем выбора длительности измерений в каждом положении образца. Рис.4. Профили поверхностной β-активности образца Мо, облученного пучком гамма-излучения: ■ − через 24 часа после облучения; ● − через 48 часов после облучения; − фон гамма-квантов; − “чистое” распределение β-активности с выче- том фона гамма-квантов Путем вычитания фона гамма-квантов получает- ся “чистый” профиль поверхностной β-активности. Строго говоря, вычитание вклада гамма-квантов β- распада не обязательно, так как последние также несут информацию о поверхностной активности образца, однако, в случае прецизионных измерений ширин распределений поверхностной β-активности такой учет вклада гамма-квантов может быть кор- ректно сделан. Совпадение ширин распределений, измеренных в разные моменты времени после облучения образ- ца доказывает независимость результата измерения от времени “остывания”. Таким образом, представленные на Рис.4 зави- симости величины активности β-частиц от положе- ния детектора при его перемещении вдоль линии сканирования, фактически отражают профиль пуч- ка гамма-излучения, которым был облучен образец. Ниже представлены результаты измерений про- филей пучка тормозного излучения непосредствен- но за конвертером из тантала толщиной 3,5 мм и профилей пучка электронов ускорителя ЛУ-40М. Для измерения использовались тонкие (~0,1 мм) образцы из различных материалов (молибдена, ме- ди, тантала), которые были облучены пучком гам- ма-излучения одновременно. Измерения выполнены в режиме непрерывного перемещения облученного образца под детектором. Изложенная методика определения профиля (плотности распределения) пучка гамма-излучения в полной мере относится также к пучкам электронов, тем более, что практически все частицы пучка обла- дают одинаковой энергией ( /E EΔ ≅ 2…3%). На Рис.5-7 представлены результаты измерения профилей пучков электронов. Облучаемый образец устанавливался перед конвертером. Рис.5. Профиль пучка тормозного излучения с мак- симальной энергией 40 МэВ, измеренный на тонком образце Cu (шкала в сантиметрах) Рис.6. Профиль пучка тормозного излучения с мак- симальной энергией 40 МэВ, измеренный на тонком образце Мо (шкала в сантиметрах) Рис.7. Профиль пучка тормозного излучения с мак- симальной энергией 40 МэВ, измеренный на тонком образце Та (шкала в сантиметрах) 182 ВЫВОДЫ 1. На основе регистрации β-частиц остаточной активности разработана система (методика) измере- ния профиля пучков электронов или гамма- излучения по распределению поверхностной β- активности образца, облученного этими пучками. 2. Разработанная система позволяет измерять профили пучков гамма-излучения в наиболее инте- ресной области энергий – ядерноактивной (выше порога фотоядерных реакций – ≥8 МэВ), с приемле- мой для практических потребностей пространствен- ной разрешающей способностью. 3. Измерения профиля пучка гамма-излучения, вы- полненные с использованием образцов из различных материалов, дают практически одинаковые результаты. Рис.8. Профиль пучка электронов с энергией в мак- симуме спектра 40 МэВ, измеренный на тонком образце Cu. Распределение с низкой интенсивностью – вклад гамма-квантов 4. Так как процесс измерения профиля пучка за- нимает несколько минут, разработанная методика в сочетании с быстрой доставкой облученного образ- ца к измерительной системе (пневмопочтой) откры- вает дополнительные возможности в настройке ре- жима работы ускорителя для получения требуемых пространственных характеристики пучков электро- нов или гамма-излучения применительно к произ- водству изотопов фотоядерным способом. Работа выполнена при поддержке гранта УНТЦ, # Р228. ЛИТЕРАТУРА 1. Б.И. Шраменко. Электромагнитное излучение, гене- рируемое пучками электронов и позитронов высоких энергий в монокристаллах и аморфном веществе: Автореф. дис. канд.физ.-мат.наук. Харьков, 2003. Рис.9. Измеренные распределения профиля пучка электронов (см. Рис.6) соответствуют сканирова- нию поперечных размеров пучка на различных рас- стояниях от его центра (в порядке расположения распределений слева направо): +2 мм; 0; -1 мм; -2 мм 2. В.И. Никифоров, Р.И. Помацалюк, В.А. Шевченко и др. Система измерения профиля потока высо- коэнергетического тормозного излучения // ВАНТ. Серия “Ядерно-физические исследования” (49). 2008, №3, с.196-200. На Рис.8. и 9 хорошо видна асимметрия распре- делений, описывающих профиль пучка, что указы- вает на несимметричность формы самого пучка электронов. Полученная информация может быть использована для настройки режима оптимальной фокусировки пучка ускорителя. 3. Измерение характеристик ядерных реакций и пучков частиц. М.: “Мир”, 1965. Статья поступила в редакцию 20.09.2009 г. MEASURING SYSTEM OF ELECTRONS AND GAMMA-RADIATION BEAM PROFILES BY MEASURMENT OF SURFACE β-ACTIVITY DISTRIBUTION M.I. Ayzatskiy, V.I. Kulibaba, N.I. Maslov, V.A. Mats, V.D. Ovchinnik, B.I. Shramenko The system allows to measure distribution of surficial β-activity target, which radiation-exposed in the stream of gamma-radiation or electrons. The profile of residual β-activity of the thin radiation-exposed target corresponds the profile of primary beam of gamma-radiation or electrons with energies higher than threshold of nuclear reactions. Activity of the explored area of target is registered a semiconductor silicon detector. Distribution of activity target along the line of scan-out is formed by the multiport ADC. The system allows to define the profile of gamma-radiation or electrons beams on the output of accelerator. СИСТЕМА ДЛЯ ВИМІРЮВАННЯ ПРОФІЛЮ ПУЧКА ГАМА-КВАНТІВ ТА ЕЛЕКТРОНІВ ПО РОЗПОДІЛЕННЮ ПОВЕРХНЕВОЇ β-АКТИВНОСТІ М.І. Айзацький, В.І. Кулибаба, М.І. Маслов, В.О. Мац, В.Д. Овчинник, Б.І. Шраменко Представлено конструкцію та принцип роботи системи для виміру залишкової поверхневої β-активності зразка, опроміненого пучком гальмового випромінювання або електронів. У вимірювальній системі викори- стовується тонкий планарный кремнієвий детектор з високою ефективністю реєстрації β-частинок, що до- зволяє надійно ідентифікувати їх на тлі гамма-квантів β-розпаду і, тим самим, одержати достовірну інфор- мацію про розподіл β-активності. З використанням даної системи були проведені дослідження можливості виміру профілів як інтенсивних пучків електронів, так і генерованого ними в конвертері гальмового випро- мінювання. 183

Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности

Репозитарії

Схожі ресурси