Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности
Представлены конструкция и принцип работы системы для измерения остаточной поверхностной β-активности образца, облученного пучком тормозного излучения или электронов. В измерительной системе используется тонкий планарный кремниевый детектор с высокой эффективностью регистрации β-частиц, что позволяе...
Gespeichert in:
| Datum: | 2010 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2010
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17042 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Система для измерения профиля пучка гамма-квантов и электронов по распределению поверхностной β-активности / Н.И. Айзацкий, В.И. Кулибаба, Н.И. Маслов, В.А. Мац, В.Д. Овчинник, Б.И. Шраменко // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 3. — С. 180-183. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |