Электронная фокусировка в слоистых проводниках
Теоретически исследованы эффекты электронной фокусировки (ЭФ) в слоистом металле, ферми-по- 
 верхность которого представляет собой слабо гофрированный цилиндр. Предсказаны особенности в зависи
 мости сигнала на измерительном контакте от магнитного поля, отсутствующие в изотропных п...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика низких температур |
|---|---|
| Datum: | 1995 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1995
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/174792 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Электронная фокусировка в слоистых проводниках / Ю.А. Колесниченко, Бедасса Тесгера, В.И. Гришаев // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 10. — С. 1049-1056. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Теоретически исследованы эффекты электронной фокусировки (ЭФ) в слоистом металле, ферми-по- 
верхность которого представляет собой слабо гофрированный цилиндр. Предсказаны особенности в зависи
мости сигнала на измерительном контакте от магнитного поля, отсутствующие в изотропных проводниках. 
Показано, что форма линий продольной и поперечной ЭФ чрезвычайно чувствительна к соотношению 
между диаметром микроконтакта и малым размером электронной траектории в перпендикулярном слоям 
направлении.
Теоретично досліджено ефекти електронного фокусування (ЕФ) в шаруватому металі, фермі-поверхня 
якого являє собою слабко гофрирований циліндр. Передбачено особливості в залежності сигналу на вимірю
вальному контакті від магнітного поля, відсутні у ізотропних провідниках. Показано, що форма ліній поздов
жньої і поперечної ЕФ надзвичайно чутлива до співвідношення між діаметром мікроконтакту і малим 
розміром електронної траєкторії у перпендикулярному до шарів напряму.
A theoretical study has been made of effects of elec
tron focusing (EF) in the layered metal whose Fermi- 
surface is a slightly-corrugated cylinder. The peculiari
ties are predicted of the signal of measuring contact 
(junction) vs magnetic field curve, which are not present 
in isotropic conductors. The shape of the longitudinal 
and transverse, EF lines is shown to be very sensitive to 
a ration between the microcontact diameter and small
sized electron trajectory in the direction perpendicular 
to the layers.
|
|---|---|
| ISSN: | 0132-6414 |