Влияние электрон-фононной релаксации на продольную фокусировку электронов в металлах
Теоретически обоснована возможность спектроскопии электрон-фононного взаимодействия (ЭФВ) методом продольной фокусировки электронов (ПФЭ) в тонких металлических пластинах. Показано, что ПФЭ позволяет получить недоступную другими методами информацию о дифференциальной функции ЭФВ, характеризующей ре...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика низких температур |
|---|---|
| Datum: | 1997 |
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1997
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/174827 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Влияние электрон-фононной релаксации на продольную фокусировку электронов в металлах / Ю.А. Колесниченко, Тесгера Бедасса // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 3. — С. 300-306. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Теоретически обоснована возможность спектроскопии электрон-фононного взаимодействия (ЭФВ) методом продольной фокусировки электронов (ПФЭ) в тонких металлических пластинах. Показано, что ПФЭ позволяет получить недоступную другими методами информацию о дифференциальной функции ЭФВ, характеризующей релаксацию на фононах носителей заряда со строго определенным импульсом.
Теоретично обгрунтовано можливість спектроскопії електрон-фононної взаємодіі (ЕФВ) методом поздовньоrо фокусування електронів (ПФЕ) в тонких металічних пластинах. Показано, що ПФЕ дозволяє одержати недоступну іншими методами інформацію про диференціальну функцію ЕФВ, яка характеризує релаксацію на фононах носіів заряду з точно визначеним імпульсом.
Feasibility of spectroscopy of the electron–phonon interaction (EPI) is substantiated by the method of longitudinal electron focusing (LEF) in thin metal plates. It is shown that the LEF makes it possible to obtain information on the differential function of the EPI characterizing the relaxation of charge carriers with a strictly definite momentum on phonons, which cannot be gained by using other methods.
|
|---|---|
| ISSN: | 0132-6414 |