Влияние электрон-фононной релаксации на продольную фокусировку электронов в металлах

Теоретически обоснована возможность спектроскопии электрон-фононного взаимодействия (ЭФВ) ме­тодом продольной фокусировки электронов (ПФЭ) в тонких металлических пластинах. Показано, что ПФЭ позволяет получить недоступную другими методами информацию о дифференциальной функции ЭФВ, характеризующей ре...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физика низких температур
Дата:1997
Автори: Колесниченко, Ю.А., Тесгера Бедасса
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1997
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/174827
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Влияние электрон-фононной релаксации на продольную фокусировку электронов в металлах / Ю.А. Колесниченко, Тесгера Бедасса // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 3. — С. 300-306. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Теоретически обоснована возможность спектроскопии электрон-фононного взаимодействия (ЭФВ) ме­тодом продольной фокусировки электронов (ПФЭ) в тонких металлических пластинах. Показано, что ПФЭ позволяет получить недоступную другими методами информацию о дифференциальной функции ЭФВ, характеризующей релаксацию на фононах носителей заряда со строго определенным импульсом. Теоретично обгрунтовано можливість спектроскопії електрон-фононної взаємодіі (ЕФВ) методом поздовньоrо фокусування електронів (ПФЕ) в тонких металічних пластинах. Показано, що ПФЕ дозволяє одер­жати недоступну іншими методами інформацію про диференціальну функцію ЕФВ, яка характеризує ре­лаксацію на фононах носіів заряду з точно визначеним імпульсом. Feasibility of spectroscopy of the electron–phonon interaction (EPI) is substantiated by the method of longitudinal electron focusing (LEF) in thin metal plates. It is shown that the LEF makes it possible to obtain information on the differential function of the EPI characterizing the relaxation of charge carriers with a strictly definite momentum on phonons, which cannot be gained by using other methods.
ISSN:0132-6414