Влияние электрон-фононной релаксации на продольную фокусировку электронов в металлах

Теоретически обоснована возможность спектроскопии электрон-фононного взаимодействия (ЭФВ) ме­тодом продольной фокусировки электронов (ПФЭ) в тонких металлических пластинах. Показано, что ПФЭ позволяет получить недоступную другими методами информацию о дифференциальной функции ЭФВ, характеризующей ре...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физика низких температур
Date:1997
Main Authors: Колесниченко, Ю.А., Тесгера Бедасса
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1997
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/174827
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Влияние электрон-фононной релаксации на продольную фокусировку электронов в металлах / Ю.А. Колесниченко, Тесгера Бедасса // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 3. — С. 300-306. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Теоретически обоснована возможность спектроскопии электрон-фононного взаимодействия (ЭФВ) ме­тодом продольной фокусировки электронов (ПФЭ) в тонких металлических пластинах. Показано, что ПФЭ позволяет получить недоступную другими методами информацию о дифференциальной функции ЭФВ, характеризующей релаксацию на фононах носителей заряда со строго определенным импульсом. Теоретично обгрунтовано можливість спектроскопії електрон-фононної взаємодіі (ЕФВ) методом поздовньоrо фокусування електронів (ПФЕ) в тонких металічних пластинах. Показано, що ПФЕ дозволяє одер­жати недоступну іншими методами інформацію про диференціальну функцію ЕФВ, яка характеризує ре­лаксацію на фононах носіів заряду з точно визначеним імпульсом. Feasibility of spectroscopy of the electron–phonon interaction (EPI) is substantiated by the method of longitudinal electron focusing (LEF) in thin metal plates. It is shown that the LEF makes it possible to obtain information on the differential function of the EPI characterizing the relaxation of charge carriers with a strictly definite momentum on phonons, which cannot be gained by using other methods.
ISSN:0132-6414