Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне

Представлены результаты первого спектроскопического наблюдения дефектообразования в твердом аргоне, индуцированного возбуждением электронной подсистемы. Получены доказательства образования заряженных и нейтральных дефектов. Использована комбинация методов люминесцентной и термоактивационной спектрос...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физика низких температур
Date:1996
Main Authors: Савченко, Е.В., Огурцов, А.Н., Григоращенко, О.Н., Губин, С.А.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1996
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175102
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне / Е.В. Савченко, А.Н. Огурцов, О.Н. Григоращенко, С.А. Губин // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 10. — С. 1210-1215. — Бібліогр.: 27 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-175102
record_format dspace
spelling Савченко, Е.В.
Огурцов, А.Н.
Григоращенко, О.Н.
Губин, С.А.
2021-01-30T15:33:40Z
2021-01-30T15:33:40Z
1996
Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне / Е.В. Савченко, А.Н. Огурцов, О.Н. Григоращенко, С.А. Губин // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 10. — С. 1210-1215. — Бібліогр.: 27 назв. — рос.
0132-6414
PACS: 71.55 Ht; 61.80.Fe; 71.35.-y
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175102
Представлены результаты первого спектроскопического наблюдения дефектообразования в твердом аргоне, индуцированного возбуждением электронной подсистемы. Получены доказательства образования заряженных и нейтральных дефектов. Использована комбинация методов люминесцентной и термоактивационной спектроскопии.
Подано результати першого спектроскопічного спостереження дефектоутворення у твердому аргоні, індукованого збудженням електронної підсистеми. Одержано докази утворення заряджених і нейтральних дефектів. Застосовано комбінацію методів люмінесцентної і термоактиваційної спектроскопії.
The first spectroscopic data on defect formation induced by excitation of electronic subsystem are presented. Evidence of charged and neutral defect formation is obtained. Combination of luminescence and thermoactivation spectroscopy methods is used.
Работа выполнена при частичной финансовой поддержке Международного научного фонда (грант U29200).
ru
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Физика низких температур
Низкотемпературная физика пластичности и прочности
Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне
Defect formation induced by excitation of electronic subsystem in solid Ar
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне
spellingShingle Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне
Савченко, Е.В.
Огурцов, А.Н.
Григоращенко, О.Н.
Губин, С.А.
Низкотемпературная физика пластичности и прочности
title_short Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне
title_full Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне
title_fullStr Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне
title_full_unstemmed Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне
title_sort дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне
author Савченко, Е.В.
Огурцов, А.Н.
Григоращенко, О.Н.
Губин, С.А.
author_facet Савченко, Е.В.
Огурцов, А.Н.
Григоращенко, О.Н.
Губин, С.А.
topic Низкотемпературная физика пластичности и прочности
topic_facet Низкотемпературная физика пластичности и прочности
publishDate 1996
language Russian
container_title Физика низких температур
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
format Article
title_alt Defect formation induced by excitation of electronic subsystem in solid Ar
description Представлены результаты первого спектроскопического наблюдения дефектообразования в твердом аргоне, индуцированного возбуждением электронной подсистемы. Получены доказательства образования заряженных и нейтральных дефектов. Использована комбинация методов люминесцентной и термоактивационной спектроскопии. Подано результати першого спектроскопічного спостереження дефектоутворення у твердому аргоні, індукованого збудженням електронної підсистеми. Одержано докази утворення заряджених і нейтральних дефектів. Застосовано комбінацію методів люмінесцентної і термоактиваційної спектроскопії. The first spectroscopic data on defect formation induced by excitation of electronic subsystem are presented. Evidence of charged and neutral defect formation is obtained. Combination of luminescence and thermoactivation spectroscopy methods is used.
issn 0132-6414
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175102
citation_txt Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне / Е.В. Савченко, А.Н. Огурцов, О.Н. Григоращенко, С.А. Губин // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 10. — С. 1210-1215. — Бібліогр.: 27 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT savčenkoev defektoobrazovanieinducirovannoeélektronnymiperehodamivtverdomargone
AT ogurcovan defektoobrazovanieinducirovannoeélektronnymiperehodamivtverdomargone
AT grigoraŝenkoon defektoobrazovanieinducirovannoeélektronnymiperehodamivtverdomargone
AT gubinsa defektoobrazovanieinducirovannoeélektronnymiperehodamivtverdomargone
AT savčenkoev defectformationinducedbyexcitationofelectronicsubsysteminsolidar
AT ogurcovan defectformationinducedbyexcitationofelectronicsubsysteminsolidar
AT grigoraŝenkoon defectformationinducedbyexcitationofelectronicsubsysteminsolidar
AT gubinsa defectformationinducedbyexcitationofelectronicsubsysteminsolidar
first_indexed 2025-12-07T19:25:34Z
last_indexed 2025-12-07T19:25:34Z
_version_ 1850878758352846848