Аномальное отражение звука от грани квантового кристалла ⁴Не
Показано, что подвижность элементарных дефектов строения грани квантового кристалла — ступенек, порожденных источниками Франка—Рида, приводит к существенному изменению отражения ультразвука от грани. Предложено использовать этот эффект для определения параметров ступеней — линейной энергии и подвижн...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика низких температур |
|---|---|
| Datum: | 1995 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1995
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175165 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Аномальное отражение звука от грани квантового кристалла ⁴Не / В.Л. Цымбаленко // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 2. — С. 173-176. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Показано, что подвижность элементарных дефектов строения грани квантового кристалла — ступенек, порожденных источниками Франка—Рида, приводит к существенному изменению отражения ультразвука от грани. Предложено использовать этот эффект для определения параметров ступеней — линейной энергии и подвижности.
Показано, що рухливість елементарних дефектів будови грані квантового кристала — ступенів, які породжені джерелами Франка—Ріда, приводить до істотної зміни відбиття ультразвуку від грані. Пропоновано використовувати цей зфект для визначення параметрів ступенів — лінійної енергії і рухливости.
It is shown that the mobility of elementary defects (steps) induced by the Franck—Read sources in the crystal face modifies appreciably the face reflection of ultrasound. It is suggested that the effect should be used to determine the step parameters, namely, linear energy and mobility.
|
|---|---|
| ISSN: | 0132-6414 |