Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле
Представлены результаты исследования атомно-силовой микроскопии изображений кристаллического SnTe, конденсированного на подложки ситалла. Впервые для анализа полученных результатов последовательно использованы двумерные прямое и обратное по интенсивным частотам преобразования Фурье. Установлена скры...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физика низких температур |
|---|---|
| Дата: | 2017 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2017
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175179 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле / Я.П. Салий, Н.И. Бушков, И.С. Былина // Физика низких температур. — 2017. — Т. 43, № 9. — С. 1363-1367. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-175179 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Салий, Я.П. Бушков, Н.И. Былина, И.С. 2021-01-31T11:33:11Z 2021-01-31T11:33:11Z 2017 Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле / Я.П. Салий, Н.И. Бушков, И.С. Былина // Физика низких температур. — 2017. — Т. 43, № 9. — С. 1363-1367. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. 0132-6414 PACS: 61.05.–a https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175179 Представлены результаты исследования атомно-силовой микроскопии изображений кристаллического SnTe, конденсированного на подложки ситалла. Впервые для анализа полученных результатов последовательно использованы двумерные прямое и обратное по интенсивным частотам преобразования Фурье. Установлена скрытая периодичность в расположении объектов на поверхности пленки, которая подтверждается двумерной автокорреляционной функцией изображения. К распределению азимутального угла вектора нормали к поверхности применено одномерное преобразование Фурье. Установлено, что поверхность конденсата имеет неизменный набор элементов симметрии, хотя размеры поверхностных объектов монотонно зависят от времени осаждения. Выполнена аппроксимация распределения полярного угла вектора нормали единственной одномодальной функцией, форма которой не зависит от времени осаждения. Подано результати дослідження атомно-силової мікроскопії зображень кристалічного SnTe, конденсованого на підкладки із ситалу. Вперше до аналізу одержаних результатів послідовно використано двовимірні пряме та обернене за інтенсивними частотами перетворення Фур’є. Виявлено приховану періодичність у розташуванні об’єктів на поверхні плівки, яку підтверджено двовимірною автокореляційною функцією зображення. До розподілу азимутального кута вектора нормалі до поверхні застосовано одновимірне перетворення Фур’є. Встановлено, що поверхня конденсату має незмінний набір елементів симетрії, хоча розміри поверхневих об’єктів монотонно залежать від часу осадження. Виконано апроксимацію розподілу полярного кута вектора нормалі єдиною одномодальною функцією, форма якої не залежить від часу осадження. This is a study of atomic force microscope images of crystalline SnTe condensed on a ceramic glass (sitall) substrate. For the first time, two-dimensional forward and reverse Fourier transforms over the intense frequencies are used sequentially to analyze the data. A hidden periodicity in the position of objects on the surface of the film is discovered and confirmed by the two-dimensional autocorrelation function of the image. The one-dimensional Fourier transform is applied to the distribution of the azimuthal angle of the normal vector to the surface. It is found that the condensate surface has an invariant set of symmetry elements, although the dimensions of the surface objects depend monotonically on the deposition time. An approximation is obtained for the distribution of the polar angle of the normal vector using a unique single-mode function whose form is independent of the deposition time. ru Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України Физика низких температур Динамика кристаллической решетки Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле Lattices of SnTe surface nanoclusters on glass-ceramic featured Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле |
| spellingShingle |
Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле Салий, Я.П. Бушков, Н.И. Былина, И.С. Динамика кристаллической решетки |
| title_short |
Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле |
| title_full |
Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле |
| title_fullStr |
Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле |
| title_full_unstemmed |
Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле |
| title_sort |
решетки поверхностных нанокластеров snte на ситалле |
| author |
Салий, Я.П. Бушков, Н.И. Былина, И.С. |
| author_facet |
Салий, Я.П. Бушков, Н.И. Былина, И.С. |
| topic |
Динамика кристаллической решетки |
| topic_facet |
Динамика кристаллической решетки |
| publishDate |
2017 |
| language |
Russian |
| container_title |
Физика низких температур |
| publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Lattices of SnTe surface nanoclusters on glass-ceramic featured |
| description |
Представлены результаты исследования атомно-силовой микроскопии изображений кристаллического SnTe, конденсированного на подложки ситалла. Впервые для анализа полученных результатов последовательно использованы двумерные прямое и обратное по интенсивным частотам преобразования Фурье. Установлена скрытая периодичность в расположении объектов на поверхности пленки, которая подтверждается двумерной автокорреляционной функцией изображения. К распределению азимутального угла вектора
нормали к поверхности применено одномерное преобразование Фурье. Установлено, что поверхность конденсата имеет неизменный набор элементов симметрии, хотя размеры поверхностных объектов монотонно
зависят от времени осаждения. Выполнена аппроксимация распределения полярного угла вектора нормали
единственной одномодальной функцией, форма которой не зависит от времени осаждения.
Подано результати дослідження атомно-силової мікроскопії зображень кристалічного SnTe, конденсованого на підкладки із ситалу. Вперше до аналізу одержаних результатів послідовно використано двовимірні
пряме та обернене за інтенсивними частотами перетворення Фур’є. Виявлено приховану періодичність у
розташуванні об’єктів на поверхні плівки, яку підтверджено двовимірною автокореляційною функцією зображення. До розподілу азимутального кута вектора нормалі до поверхні застосовано одновимірне перетворення Фур’є. Встановлено, що поверхня конденсату має незмінний набір елементів симетрії, хоча розміри
поверхневих об’єктів монотонно залежать від часу осадження. Виконано апроксимацію розподілу полярного кута вектора нормалі єдиною одномодальною функцією, форма якої не залежить від часу осадження.
This is a study of atomic force microscope images of crystalline SnTe condensed on a ceramic glass (sitall) substrate. For the first time, two-dimensional forward and reverse Fourier transforms over the intense frequencies are used sequentially to analyze the data. A hidden periodicity in the position of objects on the surface of the film is discovered and confirmed by the two-dimensional autocorrelation function of the image. The one-dimensional Fourier transform is applied to the distribution of the azimuthal angle of the normal vector to the surface. It is found that the condensate surface has an invariant set of symmetry elements, although the dimensions of the surface objects depend monotonically on the deposition time. An approximation is obtained for the distribution of the polar angle of the normal vector using a unique single-mode function whose form is independent of the deposition time.
|
| issn |
0132-6414 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175179 |
| citation_txt |
Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле / Я.П. Салий, Н.И. Бушков, И.С. Былина // Физика низких температур. — 2017. — Т. 43, № 9. — С. 1363-1367. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT saliiâp rešetkipoverhnostnyhnanoklasterovsntenasitalle AT buškovni rešetkipoverhnostnyhnanoklasterovsntenasitalle AT bylinais rešetkipoverhnostnyhnanoklasterovsntenasitalle AT saliiâp latticesofsntesurfacenanoclustersonglassceramicfeatured AT buškovni latticesofsntesurfacenanoclustersonglassceramicfeatured AT bylinais latticesofsntesurfacenanoclustersonglassceramicfeatured |
| first_indexed |
2025-12-07T13:26:57Z |
| last_indexed |
2025-12-07T13:26:57Z |
| _version_ |
1850856196066508800 |