Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии

Проведены измерения дифференциального сопротивления DV/DI(V) микроконтактов на основе соединения с тяжелыми фермионами (СТФ) URu₂Si₂ в области температур 1,5-20 К вдоль двух главных кристаллографических направлений. Проведено вимірювання диференційного опору DV/DI(V) мікроконтактів на основі сполуче...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физика низких температур
Datum:1995
Hauptverfasser: Найдюк, Ю.Г., Квитницкая, О.Е., Новак, А., Янсон, И.К., Меновский, А.А.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1995
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175272
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии / Ю.Г. Найдюк, О.Е. Квитницкая, А. Новак, И.К. Янсон, А.А. Меновский // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 3. — С. 310-315. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-175272
record_format dspace
spelling Найдюк, Ю.Г.
Квитницкая, О.Е.
Новак, А.
Янсон, И.К.
Меновский, А.А.
2021-01-31T16:52:02Z
2021-01-31T16:52:02Z
1995
Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии / Ю.Г. Найдюк, О.Е. Квитницкая, А. Новак, И.К. Янсон, А.А. Меновский // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 3. — С. 310-315. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.
0132-6414
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175272
538.9
Проведены измерения дифференциального сопротивления DV/DI(V) микроконтактов на основе соединения с тяжелыми фермионами (СТФ) URu₂Si₂ в области температур 1,5-20 К вдоль двух главных кристаллографических направлений.
Проведено вимірювання диференційного опору DV/DI(V) мікроконтактів на основі сполучення з важкими ферміонами (СВФ) URu₂Si₂ в температурному інтервалі 1,5-20 К увздовж двох головних кристалографічних напрямків.
The differential resistance dV/dl(V) of the microcontacts made of a system with heavy fermions (HFS) URu₂Si₂ has been measured in temperature range 1,5-20 K along two principal crystailographic directions.
Работа частично финансировалась из Государственного фонда фундаментальных исследований при Государственном комитете Украины по вопросам науки и технологий и грантом Американского Физического Общества.
ru
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Физика низких температур
Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии
Anisotropy of microcontact characteristics of URu₂Si₂ in normal state
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии
spellingShingle Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии
Найдюк, Ю.Г.
Квитницкая, О.Е.
Новак, А.
Янсон, И.К.
Меновский, А.А.
title_short Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии
title_full Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии
title_fullStr Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии
title_full_unstemmed Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии
title_sort анизотропия микроконтактных характеристик uru₂si₂ в нормальном состоянии
author Найдюк, Ю.Г.
Квитницкая, О.Е.
Новак, А.
Янсон, И.К.
Меновский, А.А.
author_facet Найдюк, Ю.Г.
Квитницкая, О.Е.
Новак, А.
Янсон, И.К.
Меновский, А.А.
publishDate 1995
language Russian
container_title Физика низких температур
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
format Article
title_alt Anisotropy of microcontact characteristics of URu₂Si₂ in normal state
description Проведены измерения дифференциального сопротивления DV/DI(V) микроконтактов на основе соединения с тяжелыми фермионами (СТФ) URu₂Si₂ в области температур 1,5-20 К вдоль двух главных кристаллографических направлений. Проведено вимірювання диференційного опору DV/DI(V) мікроконтактів на основі сполучення з важкими ферміонами (СВФ) URu₂Si₂ в температурному інтервалі 1,5-20 К увздовж двох головних кристалографічних напрямків. The differential resistance dV/dl(V) of the microcontacts made of a system with heavy fermions (HFS) URu₂Si₂ has been measured in temperature range 1,5-20 K along two principal crystailographic directions.
issn 0132-6414
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175272
citation_txt Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии / Ю.Г. Найдюк, О.Е. Квитницкая, А. Новак, И.К. Янсон, А.А. Меновский // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 3. — С. 310-315. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT naidûkûg anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii
AT kvitnickaâoe anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii
AT novaka anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii
AT ânsonik anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii
AT menovskiiaa anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii
AT naidûkûg anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate
AT kvitnickaâoe anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate
AT novaka anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate
AT ânsonik anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate
AT menovskiiaa anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate
first_indexed 2025-12-07T17:20:08Z
last_indexed 2025-12-07T17:20:08Z
_version_ 1850870866767773696