Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии
Проведены измерения дифференциального сопротивления DV/DI(V) микроконтактов на основе соединения с тяжелыми фермионами (СТФ) URu₂Si₂ в области температур 1,5-20 К вдоль двух главных кристаллографических направлений. Проведено вимірювання диференційного опору DV/DI(V) мікроконтактів на основі сполуче...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физика низких температур |
|---|---|
| Дата: | 1995 |
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1995
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175272 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии / Ю.Г. Найдюк, О.Е. Квитницкая, А. Новак, И.К. Янсон, А.А. Меновский // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 3. — С. 310-315. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862709763733716992 |
|---|---|
| author | Найдюк, Ю.Г. Квитницкая, О.Е. Новак, А. Янсон, И.К. Меновский, А.А. |
| author_facet | Найдюк, Ю.Г. Квитницкая, О.Е. Новак, А. Янсон, И.К. Меновский, А.А. |
| citation_txt | Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии / Ю.Г. Найдюк, О.Е. Квитницкая, А. Новак, И.К. Янсон, А.А. Меновский // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 3. — С. 310-315. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Физика низких температур |
| description | Проведены измерения дифференциального сопротивления DV/DI(V) микроконтактов на основе соединения с тяжелыми фермионами (СТФ) URu₂Si₂ в области температур 1,5-20 К вдоль двух главных кристаллографических направлений.
Проведено вимірювання диференційного опору DV/DI(V) мікроконтактів на основі сполучення з важкими ферміонами (СВФ) URu₂Si₂ в температурному інтервалі 1,5-20 К увздовж двох головних кристалографічних напрямків.
The differential resistance dV/dl(V) of the microcontacts made of a system with heavy fermions (HFS) URu₂Si₂ has been measured in temperature range 1,5-20 K along two principal crystailographic directions.
|
| first_indexed | 2025-12-07T17:20:08Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-175272 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 0132-6414 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T17:20:08Z |
| publishDate | 1995 |
| publisher | Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Найдюк, Ю.Г. Квитницкая, О.Е. Новак, А. Янсон, И.К. Меновский, А.А. 2021-01-31T16:52:02Z 2021-01-31T16:52:02Z 1995 Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии / Ю.Г. Найдюк, О.Е. Квитницкая, А. Новак, И.К. Янсон, А.А. Меновский // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 3. — С. 310-315. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. 0132-6414 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175272 538.9 Проведены измерения дифференциального сопротивления DV/DI(V) микроконтактов на основе соединения с тяжелыми фермионами (СТФ) URu₂Si₂ в области температур 1,5-20 К вдоль двух главных кристаллографических направлений. Проведено вимірювання диференційного опору DV/DI(V) мікроконтактів на основі сполучення з важкими ферміонами (СВФ) URu₂Si₂ в температурному інтервалі 1,5-20 К увздовж двох головних кристалографічних напрямків. The differential resistance dV/dl(V) of the microcontacts made of a system with heavy fermions (HFS) URu₂Si₂ has been measured in temperature range 1,5-20 K along two principal crystailographic directions. Работа частично финансировалась из Государственного фонда фундаментальных исследований при Государственном комитете Украины по вопросам науки и технологий и грантом Американского Физического Общества. ru Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України Физика низких температур Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии Anisotropy of microcontact characteristics of URu₂Si₂ in normal state Article published earlier |
| spellingShingle | Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии Найдюк, Ю.Г. Квитницкая, О.Е. Новак, А. Янсон, И.К. Меновский, А.А. |
| title | Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии |
| title_alt | Anisotropy of microcontact characteristics of URu₂Si₂ in normal state |
| title_full | Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии |
| title_fullStr | Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии |
| title_full_unstemmed | Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии |
| title_short | Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии |
| title_sort | анизотропия микроконтактных характеристик uru₂si₂ в нормальном состоянии |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175272 |
| work_keys_str_mv | AT naidûkûg anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii AT kvitnickaâoe anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii AT novaka anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii AT ânsonik anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii AT menovskiiaa anizotropiâmikrokontaktnyhharakteristikuru2si2vnormalʹnomsostoânii AT naidûkûg anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate AT kvitnickaâoe anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate AT novaka anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate AT ânsonik anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate AT menovskiiaa anisotropyofmicrocontactcharacteristicsofuru2si2innormalstate |