Критическое поведение малых магнитных частиц Cr₂O₃

Методом Монте-Карло исследовано критическое поведение малых магнитных частиц реального антиферромагнетика Cr2₂O₃. Рассчитаны критические индексы a b g и соответствующие критические амплитуды для частиц, содержащих от 286 до 2502 спинов. При этом установлено, что наличие поверхностных спинов расширяе...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физика низких температур
Date:1998
Main Authors: Муртазаев, А.К., Алиев, Х.К., Камилов, И.К., Хизриев, К.Ш.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1998
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175483
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Критическое поведение малых магнитных частиц Cr₂O₃ / А.К. Муртазаев, Х.К. Алиев, И.К. Камилов, К.Ш. Хизриев // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 5. — С. 462-467. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Методом Монте-Карло исследовано критическое поведение малых магнитных частиц реального антиферромагнетика Cr2₂O₃. Рассчитаны критические индексы a b g и соответствующие критические амплитуды для частиц, содержащих от 286 до 2502 спинов. При этом установлено, что наличие поверхностных спинов расширяет область температур, в которой наблюдается гейзенберговское критическое поведение, и смещает температуру кроссовера к критической точке. The critical behavior of small magnetic particles of the real antiferromagnet Cr2₂O₃ is investigated by the Monte Carlo method. The critical exponents α,β,γ and the corresponding critical amplitudes for particles containing from 286 to 2502 spins are calculated. It is found that the presence of superficial spins extends the temperature range with the Heisenberg critical behavior and displaces the crossover temperature to the critical point.
ISSN:0132-6414