Критическое поведение малых магнитных частиц Cr₂O₃

Методом Монте-Карло исследовано критическое поведение малых магнитных частиц реального антиферромагнетика Cr2₂O₃. Рассчитаны критические индексы a b g и соответствующие критические амплитуды для частиц, содержащих от 286 до 2502 спинов. При этом установлено, что наличие поверхностных спинов расширяе...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физика низких температур
Дата:1998
Автори: Муртазаев, А.К., Алиев, Х.К., Камилов, И.К., Хизриев, К.Ш.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1998
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175483
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Критическое поведение малых магнитных частиц Cr₂O₃ / А.К. Муртазаев, Х.К. Алиев, И.К. Камилов, К.Ш. Хизриев // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 5. — С. 462-467. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Методом Монте-Карло исследовано критическое поведение малых магнитных частиц реального антиферромагнетика Cr2₂O₃. Рассчитаны критические индексы a b g и соответствующие критические амплитуды для частиц, содержащих от 286 до 2502 спинов. При этом установлено, что наличие поверхностных спинов расширяет область температур, в которой наблюдается гейзенберговское критическое поведение, и смещает температуру кроссовера к критической точке. The critical behavior of small magnetic particles of the real antiferromagnet Cr2₂O₃ is investigated by the Monte Carlo method. The critical exponents α,β,γ and the corresponding critical amplitudes for particles containing from 286 to 2502 spins are calculated. It is found that the presence of superficial spins extends the temperature range with the Heisenberg critical behavior and displaces the crossover temperature to the critical point.
ISSN:0132-6414