Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He

Измерен кинетический коэффициент роста атомно-шероховатой поверхности кристалла гелия из раствора с примесью ³Не (х = 8-10⁻⁵ , 2-10⁻⁴). В интервале температур 1,2 -1,4 К примесь не влияла на
 кинетику роста. Сравнение результатов с теорией позволяет сделать вывод об отсутствии дополнительног...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физика низких температур
Date:1997
Main Author: Цымбаленко, В.Л.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1997
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175527
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He / В.Л. Цымбаленко // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 5-6. — С. 619-623. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862710264837701632
author Цымбаленко, В.Л.
author_facet Цымбаленко, В.Л.
citation_txt Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He / В.Л. Цымбаленко // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 5-6. — С. 619-623. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Физика низких температур
description Измерен кинетический коэффициент роста атомно-шероховатой поверхности кристалла гелия из раствора с примесью ³Не (х = 8-10⁻⁵ , 2-10⁻⁴). В интервале температур 1,2 -1,4 К примесь не влияла на
 кинетику роста. Сравнение результатов с теорией позволяет сделать вывод об отсутствии дополнительного
 вклада в кинетику роста за счет диффузии примеси. Виміряно кінетичний коефіцієнт росту атомно-шершавої поверхні кристала гелію з розчину з домішкою ³Не (х = 8-10⁻⁵ , 2-10⁻⁴). В інтервалі температур 1,2-1,4 К домішка не впливала на кінетику
 росту. Порівняння результатів експерименту з теорією дозволяє зробити висновок про відсутність
 додаткового внеску в кінетику росту за рахунок дифузії домішки. The kinetic growth coefficient is measured for an atomically rough surface of a helium crystal grown from a solution with a low ³Не impurity concentration (х = 8-10⁻⁵ , 2-10⁻⁴). The impurity does not affect the growth rate of the surface in the temperature range from 1.2 to 1.4 K. A comparison of the experimental results with the theory leads to the conclusion that the additional contribution of impurity diffusion to the growth kinetics is equal to zero.
first_indexed 2025-12-07T17:22:57Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-175527
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 0132-6414
language Russian
last_indexed 2025-12-07T17:22:57Z
publishDate 1997
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
record_format dspace
spelling Цымбаленко, В.Л.
2021-02-01T16:33:39Z
2021-02-01T16:33:39Z
1997
Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He / В.Л. Цымбаленко // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 5-6. — С. 619-623. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.
0132-6414
PACS: 67.80.Mg
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175527
Измерен кинетический коэффициент роста атомно-шероховатой поверхности кристалла гелия из раствора с примесью ³Не (х = 8-10⁻⁵ , 2-10⁻⁴). В интервале температур 1,2 -1,4 К примесь не влияла на
 кинетику роста. Сравнение результатов с теорией позволяет сделать вывод об отсутствии дополнительного
 вклада в кинетику роста за счет диффузии примеси.
Виміряно кінетичний коефіцієнт росту атомно-шершавої поверхні кристала гелію з розчину з домішкою ³Не (х = 8-10⁻⁵ , 2-10⁻⁴). В інтервалі температур 1,2-1,4 К домішка не впливала на кінетику
 росту. Порівняння результатів експерименту з теорією дозволяє зробити висновок про відсутність
 додаткового внеску в кінетику росту за рахунок дифузії домішки.
The kinetic growth coefficient is measured for an atomically rough surface of a helium crystal grown from a solution with a low ³Не impurity concentration (х = 8-10⁻⁵ , 2-10⁻⁴). The impurity does not affect the growth rate of the surface in the temperature range from 1.2 to 1.4 K. A comparison of the experimental results with the theory leads to the conclusion that the additional contribution of impurity diffusion to the growth kinetics is equal to zero.
Автор признателен С.Н. Бурмистрону и Л.Б. Дубовскому за мноrочисленные полезные обсуждения в процессе работы, а также А.Я. Паршину за ценное обсуждение результа­тов работы. Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследова­ний, грант № 96-02-18511а.
ru
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Физика низких температур
Квантовые жидкости и квантовые кpисталлы
Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He
Growth kinetics of ⁴He crystal with a low ³He impurity concentration
Article
published earlier
spellingShingle Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He
Цымбаленко, В.Л.
Квантовые жидкости и квантовые кpисталлы
title Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He
title_alt Growth kinetics of ⁴He crystal with a low ³He impurity concentration
title_full Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He
title_fullStr Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He
title_full_unstemmed Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He
title_short Кинетика pоста кpисталла ⁴He с малой концентрацией пpимеси ³He
title_sort кинетика pоста кpисталла ⁴he с малой концентрацией пpимеси ³he
topic Квантовые жидкости и квантовые кpисталлы
topic_facet Квантовые жидкости и квантовые кpисталлы
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175527
work_keys_str_mv AT cymbalenkovl kinetikapostakpistalla4hesmaloikoncentracieippimesi3he
AT cymbalenkovl growthkineticsof4hecrystalwithalow3heimpurityconcentration