Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀

Методом дифракции быстрых электронов на просвет определено изменение периода решетки Δа/а монокристаллических пленок фуллерита C₆₀ толщиной менее 10 нм. В интервале температур от комнатной до азотной величина Δа/а увеличивается с уменьшением толщины пленок. По этим данным определены коэффициенты лин...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физика низких температур
Date:1997
Main Authors: Пугачев, А.Т., Чуракова, Н.П., Горбенко, Н.И.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1997
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175727
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀ / А. Т. Пугачев, Н. П. Чуракова, Н. И. Горбенко // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 8. — С. 854-856. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862643171571269632
author Пугачев, А.Т.
Чуракова, Н.П.
Горбенко, Н.И.
author_facet Пугачев, А.Т.
Чуракова, Н.П.
Горбенко, Н.И.
citation_txt Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀ / А. Т. Пугачев, Н. П. Чуракова, Н. И. Горбенко // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 8. — С. 854-856. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Физика низких температур
description Методом дифракции быстрых электронов на просвет определено изменение периода решетки Δа/а монокристаллических пленок фуллерита C₆₀ толщиной менее 10 нм. В интервале температур от комнатной до азотной величина Δа/а увеличивается с уменьшением толщины пленок. По этим данным определены коэффициенты линейного расширения пленок αf и поверхностного атомного слоя αs . Величина αs вдоль плоскости (111) равна (55 ± 15)*10⁻⁶ К⁻¹. Методом дифракції швидких електронів на проходження вивчено зміну періоду Δа/а гратки монокристалічних плівок фулеріту C₆₀ завтовшки менш 10 нм. У інтервалі температур від кімнатної до азотної величина Δа/а збільшується із зменшенням товщини плівок. За цими даними визначено коефіцієнти лінійного розширення плівок αf та поверхневого атомного шару αs . Величина αs вздовж площини (111) дорівнює (55 ± 15)*10⁻⁶ К⁻¹. The change in the lattice parameter Δa/a of monocrystalline C₆₀ films of thickness less than 10 nm is determined by the transmission high-energy electron diffraction method. In the temperature range 90–260 K, the value of Δa/a increases with decreasing film thickness. The results are used for calculating the coefficients αf and αs of linear thermal expansion of the films and of the surface atomic layer. The value of αs along the (111) plane is equal to (55±15)*10⁻⁶ К⁻¹.
first_indexed 2025-12-01T07:35:51Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-175727
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 0132-6414
language Russian
last_indexed 2025-12-01T07:35:51Z
publishDate 1997
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
record_format dspace
spelling Пугачев, А.Т.
Чуракова, Н.П.
Горбенко, Н.И.
2021-02-02T17:31:01Z
2021-02-02T17:31:01Z
1997
Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀ / А. Т. Пугачев, Н. П. Чуракова, Н. И. Горбенко // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 8. — С. 854-856. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.
0132-6414
PACS: 74.70.Wz, 74.76.-w
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175727
Методом дифракции быстрых электронов на просвет определено изменение периода решетки Δа/а монокристаллических пленок фуллерита C₆₀ толщиной менее 10 нм. В интервале температур от комнатной до азотной величина Δа/а увеличивается с уменьшением толщины пленок. По этим данным определены коэффициенты линейного расширения пленок αf и поверхностного атомного слоя αs . Величина αs вдоль плоскости (111) равна (55 ± 15)*10⁻⁶ К⁻¹.
Методом дифракції швидких електронів на проходження вивчено зміну періоду Δа/а гратки монокристалічних плівок фулеріту C₆₀ завтовшки менш 10 нм. У інтервалі температур від кімнатної до азотної величина Δа/а збільшується із зменшенням товщини плівок. За цими даними визначено коефіцієнти лінійного розширення плівок αf та поверхневого атомного шару αs . Величина αs вздовж площини (111) дорівнює (55 ± 15)*10⁻⁶ К⁻¹.
The change in the lattice parameter Δa/a of monocrystalline C₆₀ films of thickness less than 10 nm is determined by the transmission high-energy electron diffraction method. In the temperature range 90–260 K, the value of Δa/a increases with decreasing film thickness. The results are used for calculating the coefficients αf and αs of linear thermal expansion of the films and of the surface atomic layer. The value of αs along the (111) plane is equal to (55±15)*10⁻⁶ К⁻¹.
Авторы выражают благодарность А.И. Прохватилову за обсуждение результатов работы.
ru
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Физика низких температур
Низкоразмерные и неупорядоченные системы
Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀
Dilatometric size effect in thin С₆₀ films
Article
published earlier
spellingShingle Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀
Пугачев, А.Т.
Чуракова, Н.П.
Горбенко, Н.И.
Низкоразмерные и неупорядоченные системы
title Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀
title_alt Dilatometric size effect in thin С₆₀ films
title_full Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀
title_fullStr Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀
title_full_unstemmed Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀
title_short Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита С₆₀
title_sort размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита с₆₀
topic Низкоразмерные и неупорядоченные системы
topic_facet Низкоразмерные и неупорядоченные системы
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175727
work_keys_str_mv AT pugačevat razmernyidilatometričeskiiéffektvtonkihplenkahfulleritas60
AT čurakovanp razmernyidilatometričeskiiéffektvtonkihplenkahfulleritas60
AT gorbenkoni razmernyidilatometričeskiiéffektvtonkihplenkahfulleritas60
AT pugačevat dilatometricsizeeffectinthins60films
AT čurakovanp dilatometricsizeeffectinthins60films
AT gorbenkoni dilatometricsizeeffectinthins60films