Электронный спектр и критическая температура высокотемпературных сверхпроводников с несколькими купратными слоями в ячейке

Исходя из модельного микроскопического лагранжиана многослойной системы ферми-частиц с притяжением получены уравнения для определения сверхпроводящих щелей, критической температуры Тс и химического потенциала как функций концентрации носителей и числа слоев мультислойного металла. Показано, что по м...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физика низких температур
Date:1995
Main Authors: Горбар, Э.В., Локтев, В.М., Шарапов, С.Г.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1995
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175745
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Электронный спектр и критическая температура высокотемпературных сверхпроводников с несколькими купратными слоями в ячейке / Э.В. Горбар, В.М. Локтев, С.Г. Шарапов // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 4. — С. 421-430. — Бібліогр.: 33 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Исходя из модельного микроскопического лагранжиана многослойной системы ферми-частиц с притяжением получены уравнения для определения сверхпроводящих щелей, критической температуры Тс и химического потенциала как функций концентрации носителей и числа слоев мультислойного металла. Показано, что по мере заполнения зон свободных носителей на соответствующих зависимостях возможно появление участков с достаточно резким возрастанием величины щелей и Тс по мере увеличения плотности носителей в системе. При этом в системе сосуществуют куперовские и локальные пары носителей, что является причиной немонотонного роста Тс многослойного проводника; последнее наблюдается, например, в бислойном соединении YВа₂Сu₃O₆₊δ при изменении δ. Виходячи із модельного мікроскопічного лагранжіана багатошарової системи фермі-частинок з притяганням одержано рівняння для визначення надпровідних щілин, критичної температури Тс і хімічного потенціалу як функцій концентрації носіїв і числа шарів мультишарового металу. Показано, що по мірі заповнення зон вільних носіїв на відповідних залежностях можлива поява ділянок с достатньо різким зростанням величини щілин І Тс по мірі зростання густини носіїв в системі. При цьому в системі співіснують куперовські і локальні пари носіїв, що є причиною немонотонного зростання Тс багатошарового провідника; останнє спостерігається, наприклад, в бішаруватій сполуці YВа₂Сu₃O₆₊δ при зміні δ. Basing on the model microscopic Lagrangian of a multilayered system of fermi-particles with attraction, the equations for superconducting gaps, critical temperature Tc and chemical potential have been obtained for arbitrary carrier density and number of layers in the multilayeres metal. Cooper pairs coexist with local ones, which leads to a non-uniform growth of Tc of the multilayered conductor studied, for example, in the bilaye-red compaund YВа₂Сu₃O₆₊δ with changing δ.
ISSN:0132-6414