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The influence of thermal fluctuations on Coulomb blockade edge in small Josephson junctions with linear growing of voltage

In this study we carried out the analysis of the thermal fluctuations on Coulomb blockade edge in small Josephson junctions with linear growing of voltage. It was shown that, charge fluctuation is determined by the energy ratio-parameter of small size Josephson junction, temperature and growing rate...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Физика низких температур
Datum:	2018
1. Verfasser:	Askerzade, I.N.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2018
Schlagworte:	Сверхпроводимость и низкотемпературная микроэлектроника
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175973
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	The influence of thermal fluctuations on Coulomb blockade edge in small Josephson junctions with linear growing of voltage / I.N. Askerzade // Физика низких температур. — 2018. — Т. 44, № 3. — С. 278-280. — Бібліогр.: 17 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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