Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки

Дается обоснование предложенной версии о природе ранее обнаруженной особенности в температурной зависимости микроволновых потерь в полом резонаторе с тонкой сверхпроводящей пленкой халькогенида FeSe₁₋xTex, расположенной перпендикулярно магнитному полю резонатора. Эксперимент с пленкой при ее паралле...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физика низких температур
Date:2018
Main Authors: Баранник, А.А., Черпак, Н.Т., He, Y., Sun, L., Zhang, X., Вовнюк, М.В., Wu, Y.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2018
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175979
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки / А.А. Баранник, Н.Т. Черпак, Y. He, L. Sun, X. Zhang, М.В. Вовнюк, Y. Wu // Физика низких температур. — 2018. — Т. 44, № 3. — С. 326-331. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-175979
record_format dspace
spelling Баранник, А.А.
Черпак, Н.Т.
He, Y.
Sun, L.
Zhang, X.
Вовнюк, М.В.
Wu, Y.
2021-02-03T08:47:56Z
2021-02-03T08:47:56Z
2018
Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки / А.А. Баранник, Н.Т. Черпак, Y. He, L. Sun, X. Zhang, М.В. Вовнюк, Y. Wu // Физика низких температур. — 2018. — Т. 44, № 3. — С. 326-331. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.
0132-6414
PACS: 74.25.nn, 74.70.Xa, 74.78.–w, 84.40.–x
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175979
Дается обоснование предложенной версии о природе ранее обнаруженной особенности в температурной зависимости микроволновых потерь в полом резонаторе с тонкой сверхпроводящей пленкой халькогенида FeSe₁₋xTex, расположенной перпендикулярно магнитному полю резонатора. Эксперимент с пленкой при ее параллельной ориентации по отношению к полю показывает отсутствие особенности. Появление особенности в области Т ≤ Tc при параллельной ориентации пленки объясняется изменением ориентации и распределения поля в пленке при изменении температуры. Сравнение экспериментальных данных с результатами анализа теоретической модели, не учитывающей изменение поля в пленке, показывает, что модельное представление можно использовать при микроволновых импедансных исследованиях пленок с перпендику-лярной ориентацией в интервале температур от низких до ∼ 2Tc / 3. Получены также соотношения для эффективного поверхностного импеданса сверхпроводящих пленок в N-состоянии, которые необходимы при по-строении зависимости эффективного импеданса от температуры в интервале, включающем Tc.
Дається обґрунтування запропонованої версії про природу раніше виявленої особливості в температурній залежності мікрохвильових втрат в порожнистому резонаторі з тонкою надпровідною плівкою халькогеніду FeSe₁₋xTex, розташованою перпендикулярно магнітному полю резонатора. Експеримент з плівкою при паралельній орієнтації по відношенню до поля показує відсутність особливості. Поява особливості в області Т ≤ Tc при паралельній орієнтації плівки пояснюється зміною орієнтації та розподілу поля в плівці при зміні температури. Порівняння експериментальних даних з результатами аналізу теоретичної моделі, яка не враховує зміну поля в плівці, показує, що модельне уявлення можна використовувати при мікрохвильових імпедансних дослідженнях плівок з перпендикулярною орієнтацією в інтервалі температур від низьких до ∼ 2Tc / 3. Отримано також співвідношення для ефективного поверхневого імпедансу надпровідних плівок в N-стані, які необхідні при побудові залежності ефективного імпедансу від температури в інтервалі, що містить Tc.
The proposed version is given concerning the nature of previously found feature in the temperature dependence of microwave losses in the cavity resonator with a thin superconducting film placed perpendicular to the magnetic field of the resonator. An experiment with a film with its parallel orientation with respect to the field shows the absence of the feature. The appearance of the feature at Т ≤ Tc region with a parallel orientation of the film is explained by a change in the field orientation and distribution in the film as the temperature changes. Comparison of the experimental data with the results of an analysis of the theoretical model that does not take into account the change in the field in the film shows that the model representation can be used for microwave impedance studies of films with a perpendicular orientation in the range from low temperatures to ∼ 2Tc / 3. We also obtained the relations for the effective surface impedance of superconducting films in the N state, which are necessary for constructing the dependence of the effective impedance on the temperature in the interval including Tc.
ru
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Физика низких температур
Сверхпроводимость и низкотемпературная микроэлектроника
Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
Microwave response of cavity resonator with thin superconductor film depending on film temperature and orientation
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
spellingShingle Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
Баранник, А.А.
Черпак, Н.Т.
He, Y.
Sun, L.
Zhang, X.
Вовнюк, М.В.
Wu, Y.
Сверхпроводимость и низкотемпературная микроэлектроника
title_short Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
title_full Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
title_fullStr Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
title_full_unstemmed Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
title_sort микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
author Баранник, А.А.
Черпак, Н.Т.
He, Y.
Sun, L.
Zhang, X.
Вовнюк, М.В.
Wu, Y.
author_facet Баранник, А.А.
Черпак, Н.Т.
He, Y.
Sun, L.
Zhang, X.
Вовнюк, М.В.
Wu, Y.
topic Сверхпроводимость и низкотемпературная микроэлектроника
topic_facet Сверхпроводимость и низкотемпературная микроэлектроника
publishDate 2018
language Russian
container_title Физика низких температур
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
format Article
title_alt Microwave response of cavity resonator with thin superconductor film depending on film temperature and orientation
description Дается обоснование предложенной версии о природе ранее обнаруженной особенности в температурной зависимости микроволновых потерь в полом резонаторе с тонкой сверхпроводящей пленкой халькогенида FeSe₁₋xTex, расположенной перпендикулярно магнитному полю резонатора. Эксперимент с пленкой при ее параллельной ориентации по отношению к полю показывает отсутствие особенности. Появление особенности в области Т ≤ Tc при параллельной ориентации пленки объясняется изменением ориентации и распределения поля в пленке при изменении температуры. Сравнение экспериментальных данных с результатами анализа теоретической модели, не учитывающей изменение поля в пленке, показывает, что модельное представление можно использовать при микроволновых импедансных исследованиях пленок с перпендику-лярной ориентацией в интервале температур от низких до ∼ 2Tc / 3. Получены также соотношения для эффективного поверхностного импеданса сверхпроводящих пленок в N-состоянии, которые необходимы при по-строении зависимости эффективного импеданса от температуры в интервале, включающем Tc. Дається обґрунтування запропонованої версії про природу раніше виявленої особливості в температурній залежності мікрохвильових втрат в порожнистому резонаторі з тонкою надпровідною плівкою халькогеніду FeSe₁₋xTex, розташованою перпендикулярно магнітному полю резонатора. Експеримент з плівкою при паралельній орієнтації по відношенню до поля показує відсутність особливості. Поява особливості в області Т ≤ Tc при паралельній орієнтації плівки пояснюється зміною орієнтації та розподілу поля в плівці при зміні температури. Порівняння експериментальних даних з результатами аналізу теоретичної моделі, яка не враховує зміну поля в плівці, показує, що модельне уявлення можна використовувати при мікрохвильових імпедансних дослідженнях плівок з перпендикулярною орієнтацією в інтервалі температур від низьких до ∼ 2Tc / 3. Отримано також співвідношення для ефективного поверхневого імпедансу надпровідних плівок в N-стані, які необхідні при побудові залежності ефективного імпедансу від температури в інтервалі, що містить Tc. The proposed version is given concerning the nature of previously found feature in the temperature dependence of microwave losses in the cavity resonator with a thin superconducting film placed perpendicular to the magnetic field of the resonator. An experiment with a film with its parallel orientation with respect to the field shows the absence of the feature. The appearance of the feature at Т ≤ Tc region with a parallel orientation of the film is explained by a change in the field orientation and distribution in the film as the temperature changes. Comparison of the experimental data with the results of an analysis of the theoretical model that does not take into account the change in the field in the film shows that the model representation can be used for microwave impedance studies of films with a perpendicular orientation in the range from low temperatures to ∼ 2Tc / 3. We also obtained the relations for the effective surface impedance of superconducting films in the N state, which are necessary for constructing the dependence of the effective impedance on the temperature in the interval including Tc.
issn 0132-6414
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175979
citation_txt Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки / А.А. Баранник, Н.Т. Черпак, Y. He, L. Sun, X. Zhang, М.В. Вовнюк, Y. Wu // Физика низких температур. — 2018. — Т. 44, № 3. — С. 326-331. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT barannikaa mikrovolnovyiotklikpologorezonatorastonkoisverhprovodâŝeiplenkoivzavisimostiottemperaturyiorientaciiplenki
AT čerpaknt mikrovolnovyiotklikpologorezonatorastonkoisverhprovodâŝeiplenkoivzavisimostiottemperaturyiorientaciiplenki
AT hey mikrovolnovyiotklikpologorezonatorastonkoisverhprovodâŝeiplenkoivzavisimostiottemperaturyiorientaciiplenki
AT sunl mikrovolnovyiotklikpologorezonatorastonkoisverhprovodâŝeiplenkoivzavisimostiottemperaturyiorientaciiplenki
AT zhangx mikrovolnovyiotklikpologorezonatorastonkoisverhprovodâŝeiplenkoivzavisimostiottemperaturyiorientaciiplenki
AT vovnûkmv mikrovolnovyiotklikpologorezonatorastonkoisverhprovodâŝeiplenkoivzavisimostiottemperaturyiorientaciiplenki
AT wuy mikrovolnovyiotklikpologorezonatorastonkoisverhprovodâŝeiplenkoivzavisimostiottemperaturyiorientaciiplenki
AT barannikaa microwaveresponseofcavityresonatorwiththinsuperconductorfilmdependingonfilmtemperatureandorientation
AT čerpaknt microwaveresponseofcavityresonatorwiththinsuperconductorfilmdependingonfilmtemperatureandorientation
AT hey microwaveresponseofcavityresonatorwiththinsuperconductorfilmdependingonfilmtemperatureandorientation
AT sunl microwaveresponseofcavityresonatorwiththinsuperconductorfilmdependingonfilmtemperatureandorientation
AT zhangx microwaveresponseofcavityresonatorwiththinsuperconductorfilmdependingonfilmtemperatureandorientation
AT vovnûkmv microwaveresponseofcavityresonatorwiththinsuperconductorfilmdependingonfilmtemperatureandorientation
AT wuy microwaveresponseofcavityresonatorwiththinsuperconductorfilmdependingonfilmtemperatureandorientation
first_indexed 2025-12-02T13:00:35Z
last_indexed 2025-12-02T13:00:35Z
_version_ 1850862627310272512