Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
Дается обоснование предложенной версии о природе ранее обнаруженной особенности в температурной зависимости микроволновых потерь в полом резонаторе с тонкой сверхпроводящей пленкой халькогенида FeSe₁₋xTex, расположенной перпендикулярно магнитному полю резонатора. Эксперимент с пленкой при ее паралле...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика низких температур |
|---|---|
| Datum: | 2018 |
| Hauptverfasser: | Баранник, А.А., Черпак, Н.Т., He, Y., Sun, L., Zhang, X., Вовнюк, М.В., Wu, Y. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2018
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/175979 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки / А.А. Баранник, Н.Т. Черпак, Y. He, L. Sun, X. Zhang, М.В. Вовнюк, Y. Wu // Физика низких температур. — 2018. — Т. 44, № 3. — С. 326-331. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
-
Поверхностный импеданс тонкой сверхпроводящей пленки в параллельном магнитном поле
von: Лужбин, Д. А., et al.
Veröffentlicht: (2001) -
Резистивное токовое состояние широкой сверхпроводящей пленки
von: Золочевский, И.В.
Veröffentlicht: (2011) -
Резистивное состояние широкой сверхпроводящей пленки, обусловленное переменным электромагнитным полем
von: Дмитриев, В.М., et al.
Veröffentlicht: (2009) -
Нелинейный СВЧ отклик сверхпроводящей YBa₂Cu₃O₇₋δ микрополосковой линии с сужением
von: Каленюк, А.А.
Veröffentlicht: (2009) -
Влияние микроволнового облучения на токовое резистивное состояние широкой сверхпроводящей пленки
von: Дмитриев, В.М., et al.
Veröffentlicht: (2009)