Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала

Микроволновые сверхпроводниковые квантовые цепи подвержены сильному влиянию различных дефектов, которые неизбежны в процессе производства. В данной работе представлен новый метод измерения потерь в открытой линии передачи. Эта линия посредством емкостной связи взаимодействует с копланарным четверть...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Физика низких температур
Date:2019
Main Authors: Муценик, Е.А., Султанов, А.Н., Новиков, И.Л., Иванов, Б.И., Вострецов, А.Г., Ильичев, Е.В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2019
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176088
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала / Е.А. Муценик, А.Н. Султанов, И.Л. Новиков, Б.И. Иванов, А.Г. Вострецов, Е.В. Ильичев // Физика низких температур. — 2019. — Т. 45, № 4. — С. 457-462. — Бібліогр.: 32 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-176088
record_format dspace
spelling Муценик, Е.А.
Султанов, А.Н.
Новиков, И.Л.
Иванов, Б.И.
Вострецов, А.Г.
Ильичев, Е.В.
2021-02-03T15:52:18Z
2021-02-03T15:52:18Z
2019
Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала / Е.А. Муценик, А.Н. Султанов, И.Л. Новиков, Б.И. Иванов, А.Г. Вострецов, Е.В. Ильичев // Физика низких температур. — 2019. — Т. 45, № 4. — С. 457-462. — Бібліогр.: 32 назв. — рос.
0132-6414
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176088
Микроволновые сверхпроводниковые квантовые цепи подвержены сильному влиянию различных дефектов, которые неизбежны в процессе производства. В данной работе представлен новый метод измерения потерь в открытой линии передачи. Эта линия посредством емкостной связи взаимодействует с копланарным четвертьволновым резонатором, который используется для изучения потерь в ней. Исследованы зависимости потерь от мощности и температуры (в милликельвиновом диапазоне). Показано, что основная часть потерь в линии передачи обусловлена взаимодействием микроволнового поля с дефектами, которые эффективно описываются двухуровневыми системами.
Мікрохвильові надпровідникові квантові ланцюги підпадають під сильний вплив різноманітних дефектів, які неминучі в процесі виробництва. У цій роботі представлено новий метод вимірювання втрат у відкритій лінії передачі. Ця лінія за допомогою ємнісного зв’язку взаємодіє з копланарним чвертьхвильовим резонатором, який використовується для вивчення втрат у ній. Досліджено залежності втрат від потужності та від температури (в мілікельвіновом діапазоні). Показано, що основну частину втрат у лінії передачі обумовлено взаємодією мікрохвильового поля з дефектами, які ефективно описуються дворівневими системами.
The performance of microwave superconducting quantum circuits is strongly influenced by the different types of defects unavoidable during a fabrication. Here we present a new method to quantify a transmission line’s losses. The line of interest is capacitively coupled to a superconducting coplanar quarter wavelength resonator which is used as a readout element. Both power and temperature dependencies of the losses (at millikelvin temperature range) have been studied. We demonstrate that a certain part of losses in the transmission line is caused by the interaction of the microwave field with defects which are effectively presented as two-level systems.
Авторы выражают благодарность О.В. Севостьянову за предоставленные образцы резонаторов. А.Н. Султанов выражает благодарность Я.С. Гринбергу и Н.С. Хайло за полезные обсуждения и дискуссии. Работа выполнена при поддержке Российского Научного Фонда, номер проекта № 16-19-10069.
ru
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Физика низких температур
Надпровідність, зокрема високотемпературна
Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала
Вплив дворівневих дефектів у відкритій копланарній лінії на передачу мікрохвильового сигналу
The influence of two-level defects on the microwave signal transmission in the open coplanar waveguide
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала
spellingShingle Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала
Муценик, Е.А.
Султанов, А.Н.
Новиков, И.Л.
Иванов, Б.И.
Вострецов, А.Г.
Ильичев, Е.В.
Надпровідність, зокрема високотемпературна
title_short Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала
title_full Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала
title_fullStr Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала
title_full_unstemmed Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала
title_sort влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала
author Муценик, Е.А.
Султанов, А.Н.
Новиков, И.Л.
Иванов, Б.И.
Вострецов, А.Г.
Ильичев, Е.В.
author_facet Муценик, Е.А.
Султанов, А.Н.
Новиков, И.Л.
Иванов, Б.И.
Вострецов, А.Г.
Ильичев, Е.В.
topic Надпровідність, зокрема високотемпературна
topic_facet Надпровідність, зокрема високотемпературна
publishDate 2019
language Russian
container_title Физика низких температур
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
format Article
title_alt Вплив дворівневих дефектів у відкритій копланарній лінії на передачу мікрохвильового сигналу
The influence of two-level defects on the microwave signal transmission in the open coplanar waveguide
description Микроволновые сверхпроводниковые квантовые цепи подвержены сильному влиянию различных дефектов, которые неизбежны в процессе производства. В данной работе представлен новый метод измерения потерь в открытой линии передачи. Эта линия посредством емкостной связи взаимодействует с копланарным четвертьволновым резонатором, который используется для изучения потерь в ней. Исследованы зависимости потерь от мощности и температуры (в милликельвиновом диапазоне). Показано, что основная часть потерь в линии передачи обусловлена взаимодействием микроволнового поля с дефектами, которые эффективно описываются двухуровневыми системами. Мікрохвильові надпровідникові квантові ланцюги підпадають під сильний вплив різноманітних дефектів, які неминучі в процесі виробництва. У цій роботі представлено новий метод вимірювання втрат у відкритій лінії передачі. Ця лінія за допомогою ємнісного зв’язку взаємодіє з копланарним чвертьхвильовим резонатором, який використовується для вивчення втрат у ній. Досліджено залежності втрат від потужності та від температури (в мілікельвіновом діапазоні). Показано, що основну частину втрат у лінії передачі обумовлено взаємодією мікрохвильового поля з дефектами, які ефективно описуються дворівневими системами. The performance of microwave superconducting quantum circuits is strongly influenced by the different types of defects unavoidable during a fabrication. Here we present a new method to quantify a transmission line’s losses. The line of interest is capacitively coupled to a superconducting coplanar quarter wavelength resonator which is used as a readout element. Both power and temperature dependencies of the losses (at millikelvin temperature range) have been studied. We demonstrate that a certain part of losses in the transmission line is caused by the interaction of the microwave field with defects which are effectively presented as two-level systems.
issn 0132-6414
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176088
citation_txt Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала / Е.А. Муценик, А.Н. Султанов, И.Л. Новиков, Б.И. Иванов, А.Г. Вострецов, Е.В. Ильичев // Физика низких температур. — 2019. — Т. 45, № 4. — С. 457-462. — Бібліогр.: 32 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT mucenikea vliâniedvuhurovnevyhdefektovvotkrytoikoplanarnoiliniinaperedačumikrovolnovogosignala
AT sultanovan vliâniedvuhurovnevyhdefektovvotkrytoikoplanarnoiliniinaperedačumikrovolnovogosignala
AT novikovil vliâniedvuhurovnevyhdefektovvotkrytoikoplanarnoiliniinaperedačumikrovolnovogosignala
AT ivanovbi vliâniedvuhurovnevyhdefektovvotkrytoikoplanarnoiliniinaperedačumikrovolnovogosignala
AT vostrecovag vliâniedvuhurovnevyhdefektovvotkrytoikoplanarnoiliniinaperedačumikrovolnovogosignala
AT ilʹičevev vliâniedvuhurovnevyhdefektovvotkrytoikoplanarnoiliniinaperedačumikrovolnovogosignala
AT mucenikea vplivdvorívnevihdefektívuvídkritíikoplanarníilíníínaperedačumíkrohvilʹovogosignalu
AT sultanovan vplivdvorívnevihdefektívuvídkritíikoplanarníilíníínaperedačumíkrohvilʹovogosignalu
AT novikovil vplivdvorívnevihdefektívuvídkritíikoplanarníilíníínaperedačumíkrohvilʹovogosignalu
AT ivanovbi vplivdvorívnevihdefektívuvídkritíikoplanarníilíníínaperedačumíkrohvilʹovogosignalu
AT vostrecovag vplivdvorívnevihdefektívuvídkritíikoplanarníilíníínaperedačumíkrohvilʹovogosignalu
AT ilʹičevev vplivdvorívnevihdefektívuvídkritíikoplanarníilíníínaperedačumíkrohvilʹovogosignalu
AT mucenikea theinfluenceoftwoleveldefectsonthemicrowavesignaltransmissionintheopencoplanarwaveguide
AT sultanovan theinfluenceoftwoleveldefectsonthemicrowavesignaltransmissionintheopencoplanarwaveguide
AT novikovil theinfluenceoftwoleveldefectsonthemicrowavesignaltransmissionintheopencoplanarwaveguide
AT ivanovbi theinfluenceoftwoleveldefectsonthemicrowavesignaltransmissionintheopencoplanarwaveguide
AT vostrecovag theinfluenceoftwoleveldefectsonthemicrowavesignaltransmissionintheopencoplanarwaveguide
AT ilʹičevev theinfluenceoftwoleveldefectsonthemicrowavesignaltransmissionintheopencoplanarwaveguide
first_indexed 2025-11-30T15:36:46Z
last_indexed 2025-11-30T15:36:46Z
_version_ 1850858034433097728