Анализ нелинейных спектров связанных электрон-риплонных колебаний вигнеровского кристалла при различных температурах и моделирование процесса возбуждения
Экспериментально исследован спектр связанных электрон-риплонных колебаний в вигнеровском кристалле на поверхности сверхтекучего гелия при различных температурах и возбуждающих напряжениях, приводящих к деформации спектра. Показано, что при всех температурах увеличение возбуждающего напряжения привод...
Saved in:
| Date: | 2018 |
|---|---|
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2018
|
| Series: | Физика низких температур |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176113 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Анализ нелинейных спектров связанных электрон-риплонных колебаний вигнеровского кристалла при различных температурах и моделирование процесса возбуждения / В.Е. Сивоконь, И.В. Шарапова // Физика низких температур. — 2018. — Т. 44, № 5. — С. 537-548. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | Экспериментально исследован спектр связанных электрон-риплонных колебаний в вигнеровском кристалле на поверхности сверхтекучего гелия при различных температурах и возбуждающих напряжениях, приводящих к деформации спектра. Показано, что при всех температурах увеличение возбуждающего напряжения приводит к появлению неосесимметричных колебательных мод, что указывает на искажения кристаллической решетки. Возможность возбуждения неосесимметричных мод в ячейке продемонстрирована с помощью моделирования колебаний в электронном кристалле методом молекулярной динамики. При нескольких фиксированных частотах измерены амплитуды отклика электронного кристалла на внешнее возбуждение в зависимости от величины возбуждающего напряжения и обнаружены скачки при некоторых критических напряжениях. С использованием критерия Линдемана установлена корреляция между критическим напряжением и пределом устойчивости кристаллической решетки. Сделан вывод о том, что при достижении критического значения ведущего напряжения происходит динамическое плавление электронного кристалла. |
|---|