Murakami, M., Kamiya, K., & Sato, T. (1998). Dynamical behavior of He I-He II interface layer caused by forced heat flow. Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Murakami, M., K. Kamiya, та T. Sato. Dynamical Behavior of He I-He II Interface Layer Caused by Forced Heat Flow. Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України, 1998.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Murakami, M., et al. Dynamical Behavior of He I-He II Interface Layer Caused by Forced Heat Flow. Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України, 1998.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.