Murakami, M., Kamiya, K., & Sato, T. (1998). Dynamical behavior of He I-He II interface layer caused by forced heat flow. Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Murakami, M., K. Kamiya, und T. Sato. Dynamical Behavior of He I-He II Interface Layer Caused by Forced Heat Flow. Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України, 1998.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Murakami, M., et al. Dynamical Behavior of He I-He II Interface Layer Caused by Forced Heat Flow. Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України, 1998.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.