Mapping of 2D contact perturbations by electrons on a helium film

A promising way to investigate 2D contact phenomena is proposed. This method is based on the idea ot depositing surface state electrons (SSE) on a thin layer of liquid helium covering the surface of a solid sample containing a 2D charge carrier system. The density of SSE adjusts to screen contact-...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физика низких температур
Datum:1998
Hauptverfasser: Teske, E., Wyder, P., Leiderer, P., Shikin, V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1998
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176402
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Mapping of 2D contact perturbations by electrons on a helium film / E. Teske, P. Wyder, P. Leiderer, V. Shikin // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 2. — С. 163-165. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine