Усиление полос поглощения в инфракрасных спектрах низкотемпературных пленок урацила с помощью интерференции

Предложен экспериментальный метод, позволяющий существенно усилить полосы в ИК спектрах поглощения низкотемпературных пленок, используя стандартную аппаратуру матричной изоляции. Эффект достигается за счет интерференционного усиления электромагнитной волны при использовании подслоя из пленки аргон...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2018
Main Authors: Иванов, А.Ю., Плохотниченко, А.М., Карачевцев, В.А.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2018
Series:Физика низких температур
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176499
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Усиление полос поглощения в инфракрасных спектрах низкотемпературных пленок урацила с помощью интерференции / А.Ю. Иванов, А.М. Плохотниченко, В.А. Карачевцев // Физика низких температур. — 2018. — Т. 44, № 11. — С. 1554-1558. — Бібліогр.: 28 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Предложен экспериментальный метод, позволяющий существенно усилить полосы в ИК спектрах поглощения низкотемпературных пленок, используя стандартную аппаратуру матричной изоляции. Эффект достигается за счет интерференционного усиления электромагнитной волны при использовании подслоя из пленки аргона. В диапазоне 2000–500 см⁻¹ с разрешением 3 см⁻¹ получены ИК фурье-спектры низкотемпературных пленок молекул урацила (Ur). При низких температурах были выращены тонкие пленки Ur толщиной около 0,3 мкм на поверхности пленок аргона толщиной 2,3 и 1,1 мкм. Для первой бислойной структуры зарегистрировано усиление в спектральной области 1250–500 см⁻¹ , а для второй — в диапазоне 2000–500 см⁻¹ . Благодаря усилению в спектре низкотемпературной пленки урацила впервые зарегистрированы полосы поглощения в области внеплоскостных деформационных колебаний 1000–500 см⁻¹ . Установлено, что внеплоскостные фундаментальные моды NH групп Ur наиболее чувствительны к изменениям кристаллической структуры пленки. Показано, что спектр поглощения отогретой до комнатной температуры пленки Ur отличается от спектра кристалла Ur, полученного из раствора, что свидетельствует о различии в их структурах.