Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности

• Published in: Физика низких температур
• Date: 1998
• Main Author: Прохоров, В.Г.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1998
• Subjects: Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176569
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.

Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы. Одержано експериментальні залежності критичної температури надпровідного переходу від товщини плівок ніобію, VN, TaN та YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, що в надпровідниках з малою довжиною когерентності певну роль у зниженні критичної температури нарівні з ефектом близькості можуть грати флуктуації електромагнітного поля і параметра надпровідного порядку. The dependence of the superconducting transition temperature on the thickness of films of niobium, VN, TaN, and YBa₂Cu₃O₇₋x are determined experimentally. It is shown that, in addition to the proximity effect, the fluctuations of the electromagnetic field and order parameter of the superconducting phase may also play a significant role in superconductors with a small coherence length.