Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности
Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флукту...
Saved in:
| Published in: | Физика низких температур |
|---|---|
| Date: | 1998 |
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1998
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176569 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862689499458306048 |
|---|---|
| author | Прохоров, В.Г. |
| author_facet | Прохоров, В.Г. |
| citation_txt | Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Физика низких температур |
| description | Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы.
Одержано експериментальні залежності критичної температури надпровідного переходу від товщини плівок ніобію, VN, TaN та YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, що в надпровідниках з малою довжиною когерентності певну роль у зниженні критичної температури нарівні з ефектом близькості можуть грати флуктуації електромагнітного поля і параметра надпровідного порядку.
The dependence of the superconducting transition temperature on the thickness of films of niobium, VN, TaN, and YBa₂Cu₃O₇₋x are determined experimentally. It is shown that, in addition to the proximity effect, the fluctuations of the electromagnetic field and order parameter of the superconducting phase may also play a significant role in superconductors with a small coherence length.
|
| first_indexed | 2025-12-07T16:11:21Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-176569 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 0132-6414 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T16:11:21Z |
| publishDate | 1998 |
| publisher | Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Прохоров, В.Г. 2021-02-05T14:10:04Z 2021-02-05T14:10:04Z 1998 Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. 0132-6414 PACS: 74.20.De, 74.72.Bk https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176569 Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы. Одержано експериментальні залежності критичної температури надпровідного переходу від товщини плівок ніобію, VN, TaN та YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, що в надпровідниках з малою довжиною когерентності певну роль у зниженні критичної температури нарівні з ефектом близькості можуть грати флуктуації електромагнітного поля і параметра надпровідного порядку. The dependence of the superconducting transition temperature on the thickness of films of niobium, VN, TaN, and YBa₂Cu₃O₇₋x are determined experimentally. It is shown that, in addition to the proximity effect, the fluctuations of the electromagnetic field and order parameter of the superconducting phase may also play a significant role in superconductors with a small coherence length. Автор выражает благодарность С. П. Ченакину за проведение анализа пленок ниобия методом ВИМС. ru Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України Физика низких температур Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности Dependence of the superconducting transition temperature on the thickness of superconducting films with different coherence lengths Article published earlier |
| spellingShingle | Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности Прохоров, В.Г. Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная |
| title | Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_alt | Dependence of the superconducting transition temperature on the thickness of superconducting films with different coherence lengths |
| title_full | Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_fullStr | Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_full_unstemmed | Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_short | Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_sort | зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| topic | Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная |
| topic_facet | Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176569 |
| work_keys_str_mv | AT prohorovvg zavisimostʹkritičeskoitemperaturyperehodaottolŝinysverhprovodâŝihplenoksrazličnymidlinamikogerentnosti AT prohorovvg dependenceofthesuperconductingtransitiontemperatureonthethicknessofsuperconductingfilmswithdifferentcoherencelengths |