Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности

• Опубліковано в: : Физика низких температур
• Дата: 1998
• Автор: Прохоров, В.Г.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1998
• Теми: Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176569
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.

Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флукту...