Фазовая диаграмма модели Изинга (S=1) с легкоплоскостной анизотропией в магнитном поле

В приближении среднего поля в переменных температура, поле, анизотропия найдены поверхности потери устойчивости и равновесия парамагнитных и антиферромагнитных состояний. Определены характерные температуры, при которых меняется топология сечений фазовой диаграммы. У наближенні середнього поля в змін...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физика низких температур
Дата:1998
Автори: Логинов, А.А., Переверзув, Ю.В.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1998
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/176632
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Фазовая диаграмма модели Изинга (S=1) с легкоплоскостной анизотропией в магнитном поле / А.А. Логинов, Ю.В. Переверзев // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 9. — С. 867-874. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:В приближении среднего поля в переменных температура, поле, анизотропия найдены поверхности потери устойчивости и равновесия парамагнитных и антиферромагнитных состояний. Определены характерные температуры, при которых меняется топология сечений фазовой диаграммы. У наближенні середнього поля в змінних температура, поле, анізотропія знайдено поверхні втрати стійкості і рівноваги парамагнітних і антиферомагнітних станів. Визначено характерні температури, за яких змінюється топологія перерізу фазової діаграми. The surfaces corresponding to the loss of stability and equilibrium of paramagnetic and antiferromagnetic states are found in the mean field approximation with temperature, field, and anisotropy as variables. The characteristic temperatures at which the topology of phase diagram sections changes are determined.
ISSN:0132-6414