Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии

Методами рентгеновской дифрактометрии (РД) и просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) исследована структура сфалеритного нитрида бора, полученного с помощью высокотемпературного ударного сжатия турбостратного BN. Показано, что синтезированный в ударных волнах кубический BN имеет нанокристалличес...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2008
Main Authors: Даниленко, А.И., Курдюмов, А.В., Бритун, В.Ф.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України 2008
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17668
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии / А.И. Даниленко, А.В. Курдюмов, В.Ф. Бритун // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2008. — Вип. 15. — С. 120-125. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862752514899705856
author Даниленко, А.И.
Курдюмов, А.В.
Бритун, В.Ф.
author_facet Даниленко, А.И.
Курдюмов, А.В.
Бритун, В.Ф.
citation_txt Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии / А.И. Даниленко, А.В. Курдюмов, В.Ф. Бритун // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2008. — Вип. 15. — С. 120-125. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
collection DSpace DC
description Методами рентгеновской дифрактометрии (РД) и просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) исследована структура сфалеритного нитрида бора, полученного с помощью высокотемпературного ударного сжатия турбостратного BN. Показано, что синтезированный в ударных волнах кубический BN имеет нанокристаллическое строение и характеризуется высоким уровнем микродеформации решетки <е^2>^1/2. По данным РД, кристаллиты BNсф имеют средние размеры 3,5―7,2 нм, а уровень микродеформации достигает <е^2>^1/2 = 15% в направлении <110>. По данным ПЭМ, распределение зерен по объемам имеет два максимума. Увеличенный параметр сфалеритной решетки обусловлен малым размером зерен.
first_indexed 2025-12-07T21:17:02Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-17668
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn XXXX-0048
language Russian
last_indexed 2025-12-07T21:17:02Z
publishDate 2008
publisher Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
record_format dspace
spelling Даниленко, А.И.
Курдюмов, А.В.
Бритун, В.Ф.
2011-03-05T19:56:41Z
2011-03-05T19:56:41Z
2008
Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии / А.И. Даниленко, А.В. Курдюмов, В.Ф. Бритун // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2008. — Вип. 15. — С. 120-125. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
XXXX-0048
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17668
548.3:539.2:533.951
Методами рентгеновской дифрактометрии (РД) и просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) исследована структура сфалеритного нитрида бора, полученного с помощью высокотемпературного ударного сжатия турбостратного BN. Показано, что синтезированный в ударных волнах кубический BN имеет нанокристаллическое строение и характеризуется высоким уровнем микродеформации решетки <е^2>^1/2. По данным РД, кристаллиты BNсф имеют средние размеры 3,5―7,2 нм, а уровень микродеформации достигает <е^2>^1/2 = 15% в направлении <110>. По данным ПЭМ, распределение зерен по объемам имеет два максимума. Увеличенный параметр сфалеритной решетки обусловлен малым размером зерен.
ru
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
Article
published earlier
spellingShingle Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
Даниленко, А.И.
Курдюмов, А.В.
Бритун, В.Ф.
title Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_full Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_fullStr Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_full_unstemmed Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_short Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_sort сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/17668
work_keys_str_mv AT danilenkoai sravnitelʹnoeissledovanieharakteristikrealʹnoistrukturynanokristalličeskogosfaleritnogonitridaborametodamirentgenovskoidifrakciiiélektronnoimikroskopii
AT kurdûmovav sravnitelʹnoeissledovanieharakteristikrealʹnoistrukturynanokristalličeskogosfaleritnogonitridaborametodamirentgenovskoidifrakciiiélektronnoimikroskopii
AT britunvf sravnitelʹnoeissledovanieharakteristikrealʹnoistrukturynanokristalličeskogosfaleritnogonitridaborametodamirentgenovskoidifrakciiiélektronnoimikroskopii