Брандт, Н., & Скипетров, Е. (1996). Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления. Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Брандт, Н.Б, und Е.П Скипетров. Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления. Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України, 1996.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Брандт, Н.Б, und Е.П Скипетров. Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления. Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України, 1996.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.