Kolchin, A., Potienko, S., & Weigert, T. (2020). Efficient increasing of the mutation score during model-based test suite generation. Проблеми програмування.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Kolchin, A., S. Potienko, та T. Weigert. "Efficient Increasing of the Mutation Score During Model-based Test Suite Generation." Проблеми програмування 2020.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Kolchin, A., et al. "Efficient Increasing of the Mutation Score During Model-based Test Suite Generation." Проблеми програмування, 2020.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.