Алгоритмы вычисления моментов высокого порядка помехи зашумленных сигналов

• Published in: Проблемы управления и информатики
• Date: 2018
• Main Authors: Алиев, Т.А., Мусаева, Н.Ф., Газызаде, Б.И.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2018
• Subjects: Методы обработки информации
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/180587
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Алгоритмы вычисления моментов высокого порядка помехи зашумленных сигналов / Т.А. Алиев, Н.Ф. Мусаева, Б.И. Газызаде // Проблемы управления и информатики. — 2018. — № 3. — С. 86-96. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Разработаны алгоритмы, позволяющие по дискретными значениями сигнала, искаженного аддитивной случайной помехой, вычислить оценки высоких порядков статистических характеристик помехи. Проведены вычислительные эксперименты. Показано, что эти характеристики помехи можно использовать в системах мониторинга, контроля, диагностики, прогноза, идентификации и т.п. для выявления начального периода зарождения дефекта и определения динамики его развития. Розроблено алгоритми, що дозволяють за дискретними значеннями сигналу, спотвореного адитивною випадковою завадою, обчислити оцінки високих порядків статистичних характеристик завади. Проведено обчислювальні експерименти. Показано, що ці характеристики завади можна використовувати в системах моніторингу, контролю, діагностики, прогнозу, ідентифікації і т.п. для виявлення початкового періоду зародження дефекту і визначення динаміки його розвитку. Algorithms have been developed that allow one to calculate estimates of high orders of statistical characteristics of the noise from the discrete values of the signal distorted by an additive random noise. Computational experiments have been conducted. It has been shown that these noise characteristics can be used in systems of monitoring, control, diagnostics, forecasting, identification, etc. to identify the initial period of the defect generation and determine its development dynamics.