Васько, А., Циковкин, Е., & Краснов, Ю. (1983). Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза. Украинский химический журнал.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Васько, А.Т, Е.М Циковкин, und Ю.С Краснов. "Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза." Украинский химический журнал 1983.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Васько, А.Т, et al. "Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза." Украинский химический журнал, 1983.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.