Васько, А., Циковкин, Е., & Краснов, Ю. (1983). Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза. Украинский химический журнал.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Васько, А.Т, Е.М Циковкин, та Ю.С Краснов. "Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза." Украинский химический журнал 1983.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Васько, А.Т, et al. "Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза." Украинский химический журнал, 1983.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.